通信教育:FT−IRの基礎知識と解析ノウハウ

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通信教育:FT−IRの基礎知識と解析ノウハウ

★目的に合わせた測定法やスペクトルの解析法をお手許でしっかり理解!
 実際の分析操作時に直面する問題点・疑問点を想定した、実務に活かせる通信教育講座です。

FT−IR基礎知識習得

及び測定・解析ノウハウ

講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 兼 大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
大阪産業創造館 相談員 博士(工学) 奥村 治樹 先生

■簡単なご略歴:

大手化学メーカー勤務後大手電機メーカー、化学系ベンチャー企業を経て現職

開講日・受講料

●開講日 2018年11月30日(申込締切 11月22日)
●受講料(税込(消費税8%))
 1名 36,720円
 2名同時申込の場合 49,680円
 3名同時申込の場合 55,080円
 4名以上同時申込の場合、1名につき、18,360円


■ 通信教育講座受講の主な流れについて →

講座のポイント

*同業者の方(コンサルタント業等)からのお申込みの場合、受講をお断りする場合がございますので、予めご了承下さい。

 赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。また、最近では、ケモメトリクス、2次元相関解析等の数学的解析手法や統計的解析手法などの適用も検討されており、その応用範囲はさらに広がりを見せている。
 近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となってきている。これによって、さらに利用範囲は広がっており、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立しているといっても過言ではない。そして、装置の性能・ソフトのインターフェースが向上していることから、満足なスペクトルを得るだけでも大変な労力が必要というような状況ではなくなり、導入したその日の内に必要十分なスペクトルを容易に得られるような状況となってきている。
 しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。特に赤外分光法の場合、測定方法だけでも数多くの選択肢があることから、それらの適切な選択だけでも困難な壁となり得る。
 本講座では、このような背景をふまえ、赤外分光法(FT−IR)について、装置やアタッチメントを含む原理、実際の分析操作やスペクトルの解釈、そして、事例などについて、原理だけでなく実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。講座は、3講に分けて解説し、各講では解説内容に沿って実際の分析を想定した演習を行う。

講座終了後に習得できる知識

 赤外分光法の基本原理、各種測定法・アタッチメント特徴と測定技術、様々な試料、目的に合わせた測定法、スペクトル処理・解釈の考え方

通信教育受講特典

【自由課題の提出】
 自由課題は、本通信教育講座受講者に限り提出可能です(参加は自由ですので、提出いただかなくても講座修了に支障はございません)。
 以下の2種課題の中から一つの課題を選択の上、解答下さい。提出された解答に対して、講師がコメントを回答します。
 ただし、提出された解答への返答はコメントのみとし、特に課題2を選択した場合を含めて具体的な提案、アドバイス等は行わないものとします(これらが必要な場合には、以下【受講特典コンサルティング】等をご検討ください)。

課題1:アプローチ演習
 FTIR測定における起こり得る状況を想定したもの
課題2:実例
 自身の業務における(想定)実例を題材としたもの

【受講特典コンサルティング】
 本通信教育を受講頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にて奥村先生によるコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

<依頼条件>
 ・初回1回のみ
 ・通信教育実施日より3カ月以内に依頼が成立
 ・コンサルティング実施時間:4時間程度まで
 ・費用:場所、内容によらず定額の限定受講特典(交通費は、別途ご負担下さい)

学習プログラム
 第1講:赤外分光法の基礎と装置・アタッチメント

1.赤外分光法の基本原理

2.赤外分光法発展の歴史

3.赤外分光法の特徴

4.検出器

 4.1.TGS、DTGSの特徴
 4.2.MCTの特徴

5.代表的な測定法
 5.1.透過法
 5.2.全反射法(ATR法)
 5.3.拡散反射法
 5.4.正反射法
 5.5.光音響分光法
 5.6.ガスセル
 5.7.測定方法のまとめ

6.顕微赤外分光法
 6.1.顕微ATR法
 6.2.顕微イメージング、マッピング

7.ラマン分光法との違い

8.ATR結晶等の取扱いや毒劇物対応

 【演習問題】

第2講:赤外測定とスペクトルの見方

1.赤外スペクトルの概要

2.主な吸収帯
 2.1.赤外活性な主な振動モード
 2.2.主な振動モードの波数分布

3.代表的な官能基の帰属

4.赤外スペクトルの見方、同定解析
 4.1.赤外スペクトルの構造敏感性と複雑性
 4.2.赤外スペクトルにおける指紋領域の利用
 4.3.カルボニル基の判別

5.特徴的な吸収帯を用いた系統同定

6.同定のためのピークの帰属のポイントと注意点

7.定量分析と検量線の使い方

8.内標準法による試料間比較

9.ATR測定で試料間比較(ピーク強度比法)

10.大気成分補正

11.スペクトルの処理
 11.1.ベースライン補正
 11.2.スムージング

12.ベースライン

13.ピーク高さとピーク面積

14.混合物の解析
 14.1.ピーク分離
 14.2.差スペクトル法
 14.3.他手法との組み合わせ

 【演習問題】

第3講:測定の実際と事例

1.各種試料の測定
 1.1.フィルム
 1.2.粉体
 1.3.バルク
 1.4.液体
 1.5.異物・微小物
 1.6.繊維
 1.7.汚染・表面付着物
 1.8.黒色試料
 1.9.結晶構造等の高次構造変化
  1.9.1.融解
  1.9.2.配向
  1.9.3.その他

2.様々な分析
 2.1.バルク分析(試料全体の情報を得る)
 2.2.表面分析
 2.3.深さ方向分析
  2.3.1.断面
  2.3.2.斜め切削法
  2.3.3.研磨法
  2.3.4.角度可変ATR測定
 2.4.温度可変測定

3.測定における注意点と対策
 3.1.ATRにおける異常分散
 3.2.ATRにおける試料変形の影響1
 3.3.ATRにおける試料変形の影響2
 3.4.KBr錠剤法における試料変質
 3.5.KBr錠剤法における粒度の影響

4.事例
 4.1.フィルム上汚染(シリコーン)
 4.2.樹脂劣化の深さ方向分析
 4.3.ポリイミドの表面改質

 【演習問題】

セミナー番号:CP181101

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