FT−IR 異物分析 セミナー

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FT−IR 異物分析 セミナー

*その他 知財・特許 セミナー、書籍一覧はこちら:

FTIRの原理等の基本的事柄に加え、様々な試料や目的への対応法等、実務の適切なすすめ方について講義!
 異物分析や混合物解析などで実際によく問題となるケースについて、具体的な手順、テクニックを紹介します!

FT−IR基礎及び

異物分析をはじめとした実践活用ノウハウ

講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表
兼 大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
大阪産業創造館 相談員 博士(工学)  奥村 治樹 先生

* 希望者は講師との名刺交換が可能です

講師紹介:

 大手化学メーカー勤務後大手電機メーカー、化学系ベンチャー企業を経て現職
 現在は、ベンチャーから上場企業まで様々な業種の顧問や技術コンサルタントとして、研究開発、製造における課題解決、戦略策定から人事研修などの人材育成などを行っている(詳細はhttp://analysis.ikaduchi.com)。また、学会等での招待講演や国プロにおけるキャリア形成プログラムの講師なども行っている。

→このセミナーを知人に紹介する

日時・会場・受講料

●日時 2019年5月29日(水) 10:30-16:30
●会場 [東京・大井町]きゅりあん4階第3グループ活動室4階第2特別講習室 →「セミナー会場へのアクセス」
 ※都合により教室が変更となりました。会場建物に変更はございません(2019/5/15)。
●受講料 1名46,440円(税込(消費税8%)、資料・昼食付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき35,640円
      *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。

 ●録音・撮影行為は固くお断り致します。
 ●講義中の携帯電話の使用はご遠慮下さい。
 ●講義中のパソコン使用は、講義の支障や他の方の迷惑となる場合がありますので、極力お控え下さい。
  場合により、使用をお断りすることがございますので、予めご了承下さい。
  *PC実習講座を除きます。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

セミナーポイント

*同業者の方(コンサルタント業等)・及び個人でのお申込みの場合、受講をお断りする場合がございますので、予めご了承下さい。

 FT−IR(フーリエ変換赤外分光法)は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
 ただ、測定が容易になった反面、とりあえず使うという状況が生まれて実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかが分からないまま使用されていることも多い。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての現場での活用に軸足を置いた解説を十分に行っているものは少ない。
 本講座は、FT−IRの原理だけではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務でのFTIR活用を念頭に構成されている。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、コツ・ノウハウを解説する。

○受講対象:
 ・新入社員から中堅実務層
 ・若手中堅を教育するマネージャー
 ・FTIRの基礎から応用までを学びたい人
 ・異物分析のテクニックを知りたい人
 ・実践的知識とテクニックを修得したい人
 など

○受講後、習得できること:
 ・FTIRの基礎知識
 ・各種測定方法
 ・スペクトル解析の考え方
 ・スペクトルサーチのコツ
 ・異物分析の実際の手順、テクニック
 ・混合物解析の実際の手順、テクニック
 など

【セミナー受講特典コンサルティング】
 セミナーを受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

<依頼条件>
 ・初回1回のみ
 ・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
 ・コンサルティング実施時間:4時間程度まで
 ・費用:場所、内容によらず定額の限定受講特典

セミナー内容

1.赤外分光法・FT−IRの基本原理と特徴
 1.1 赤外分光が見ているもの
 1.2 分光分析における吸収の定義
 1.3 赤外分光の波長領域
 1.4 振動モード
 1.5 気体と液体・固体 (H2O)
 1.6 赤外分光法の長所・短所
 1.7 赤外分光法による評価
 1.8 主な検出器
 1.9 検出器の感度特性

2.代表的な測定法
 2.1 透過法
  2.1.1 透過法
  2.1.2 透過法 : 液体用セル、塗布
  2.1.3 主な窓材
  2.1.4 フリンジ(干渉縞)
 2.2 全反射法(ATR)
  2.2.1 ATR法のバリエーション
  2.2.2 ATR結晶(IRE)の特性
  2.2.3 FTIR−ATRにおける測定深さ
  2.2.4 ATR法における注意点
  2.2.5 ATR補正
  2.2.6 異常分散によるスペクトルへの影響
  2.2.7 様々なATRアタッチメント
  2.2.8 毒劇物としてのATR結晶(IRE)
 2.3 反射法
  2.3.1 反射法
  2.3.2 高感度反射の原理
 2.4 拡散反射法
 2.5 主な測定法のまとめ
 2.6 顕微赤外

3.赤外スペクトル
 3.1 赤外スペクトルの概要
 3.2 主な振動モード
 3.3 主な吸収帯
 3.4 主な有機系官能基の吸収帯
 3.5 イオン性官能基の吸収帯
 3.6 赤外分光の構造敏感性
 3.7 指紋領域の利用
 3.8 カルボニル基の判別
 3.9 スペクトルサーチ
 3.10 スペクトルデータベース
 3.11 代表的検索アルゴリズム
 3.12 検索アルゴリズムの限界
 3.13 ヒットスコアの罠
 3.14 検索結果の間違い例
 3.15 スペクトルサーチのコツ
 3.16 差スペクトル
 3.17 混合解析
 3.18 オープンライブラリ
 3.19 系統分析
 3.20 スペクトルパターン
 3.21 帰属の考え方
 3.22 ラマン分光法との対比

4.定量分析
 4.1 検量線法
 4.2 検量線法が適用困難なケース
 4.3 ピーク強度比法
 4.4 誤差要因

5.大気成分補正
 5.1 大気成分(CO2、H2O)
 5.2 窒素パージ法
 5.3 差分法

6.測定条件

7.スペクトル処理

 7.1 ベースライン補正
 7.2 スムージング・補間
 7.3 ベースライン(ピーク強度)
 7.4 ピーク高さと面積
 7.5 自動処理の注意点

8.混合物の解析
 8.1 混合物のスペクトル
 8.2 ピーク分離
 8.3 差スペクトル
 8.4 ATR法における差スペクトル
 8.5 他手法との組み合わせ

9.異物・微小部
 9.1 顕微透過法
 9.2 マイクロサンプリングの検討
 9.3 顕微ATR

10.汚染・付着物
 10.1 差スペクトル(透過・ATR)
 10.2 ATR転写法
 10.3 その他の方法

11.黒色試料

12.高次構造

 12.1 結晶解析
 12.2 融解

13.FTIRにおける注意点
 13.1 ATRにおける異常分散
 13.2 ATRにおける試料変形の影響
 13.3 ATRにおける試料の置き方の影響
 13.4 ATRにおける押し圧の影響
 13.5 KBrと試料との反応
 13.6 KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
 13.7 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
 13.8 プレスホルダーによる測定(干渉縞)

14.事例
 14.1 フィルム上汚染
 14.2 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
 14.3 精密斜め切削法
 14.4 異物分析
  14.4.1 サンプリングの基本とコツ
  14.4.2 顕微ATR転写法
  14.4.3 片刃の加工
  14.4.4 連続作業
  14.4.5 作業時の試料固定
  14.4.6 試料の切り出し
  14.4.7 サンプリング後の測定
  14.4.8 干渉縞抑制
  14.4.9 イメージングの活用
  14.4.10 こういうのもあり

15.実例
 15.1 シミ、変色の分析
 15.2 埋もれた異物のサンプリング
 15.3 顕微赤外を用いたPPフィルム中異物の分析
 15.4 付着物の分析(顕微IR、μ-MS)
 15.5 塗膜ハジキの分析
 15.6 PET/エポキシのIRスペクトル
 15.7 LCDのTFT基板上の欠陥分析
 15.8 マイクロ抽出法による分離分析
 15.9 薬液中の浮遊物の分析

16.その他のコツ・ポイント

17.まとめ

18.質疑

セミナー番号:AC190582

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