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セミナー 粉末x線回折 粉末回折 粉末構造解析 リートベルト解析 結晶 講習会

★X線回折・粉末回折法の基礎から粉末回折データの測定および解析手順のポイント、
 ソフトウェアを用いたリートベルト解析の実際まで。
★未だに知識と経験が必要とされ、難解なイメージもある
 結晶構造解析をわかりやすく解説します!

粉末X線回折の基礎と結晶構造解析の勘所

〜データ測定からリートベルト解析まで〜

講師

大阪府立大学 理学系研究科 物理科学専攻 教授 久保田 佳基 先生

* 希望者は講師との名刺交換が可能です

講師紹介

■ご略歴:
 1993年 名古屋大学大学院 工学研究科 博士後期課程 応用物理学専攻 を中退し、大阪女子大学 学芸学部 基礎理学科 助手 に着任。合金および金属間化合物の精密結晶構造解析の研究に従事。1999年に名古屋大学で博士(工学)の学位を取得。大学改組を経て、2013年 大阪府立大学大学院 理学系研究科 物理科学専攻 教授。高輝度放射光を利用した精密構造物性研究に従事。現在に至る。
 その間、高輝度光科学研究センター 外来研究員および 粉末回折ビームライン パートナーユーザー。最近の研究テーマは、多孔性配位高分子のガス吸着における回折データその場測定および結晶構造解析、遷移金属を中心とする酸化物の構造物性。

■ご専門および得意な分野・研究:
放射光粉末回折/精密電子密度解析/多孔性結晶材料の結晶構造解析

■本テーマ関連学協会でのご活動:
・日本結晶学会 評議員
・大型放射光施設SPring-8 粉末回折ビームライン パートナーユーザー メンバー
・公益財団法人高輝度光科学研究センター(JASRI) 外来研究員

→このセミナーを知人に紹介する

日時・会場・受講料

●日時 2020年2月13日(木) 10:30-16:30
●会場 [東京・東新宿]新宿文化センター4階 第4会議室 →「セミナー会場へのアクセス」
●受講料 1名47,300円(税込(消費税10%)、資料・昼食付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円
      *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。

 ●録音・撮影行為は固くお断り致します。
 ●講義中の携帯電話の使用はご遠慮下さい。
 ●講義中のパソコン使用は、講義の支障や他の方の迷惑となる場合がありますので、極力お控え下さい。
  場合により、使用をお断りすることがございますので、予めご了承下さい。
  *PC実習講座を除きます。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

セミナー開催にあたって

■はじめに:
 高輝度放射光の利用や実験装置、ソフトウエア、コンピュータの進歩により、粉末結晶構造解析の技術は近年著しい進歩を遂げているが、未だ知識と経験が必要とされる。
 このセミナーでは、粉末回折データの測定や解析におけるポイントを示しながら、粉末回折法によりどのような有用な情報が得られるかを解説する。また、ソフトウエアJANA2006を用いたRietveld法による解析の実際についても解説する。

■受講対象者:
・材料研究を始めた初心者の方
・材料評価を本格的に行いたいと考えている方
・X線回折装置は使っている、あるいは使ったことがあるが、データや解析について詳しく知りたい方

■必要な予備知識:

・数学の基礎知識(ベクトルや微分積分など)
・結晶学の基礎知識(単位格子、結晶系、ミラー指数、面間隔など)

■本セミナーで習得できること(一例):

・X線回折の基礎知識
・粉末回折データの見方
・Rietveld解析(結晶構造の精密化)のノウハウ

セミナー内容

1.X線回折の基礎
 1-1 ブラッグ条件
 1-2 電子によるX線の散乱
 1-3 原子によるX線の散乱
 1-4 結晶によるX線の回折
 1-5 ラウエ関数
 1-6 回折条件
 1-7 結晶構造因子
 1-8 積分反射強度

2.粉末回折法
 2-1 粉末結晶と多結晶
 2-2 粉末結晶による回折
 2-3 粉末回折データに含まれる情報
 2-4 粉末回折法の長所と短所

3.粉末回折データの測定
 3-1 粉末回折データの測定方法
 3-2 試料の調整方法
 3-3 測定条件の設定
 3-4 角度分解能と空間分解能
 3-5 統計精度
 3-6 放射光粉末回折実験

4.粉末回折データの解析
 4-1 粉末結晶構造解析の手順
 4-2 指数付け
 4-3 パターン分解法
 4-4 プロファイル関数

5.Rietveld解析
 5-1 Rietveld解析
 5-2 解析の流れ
 5-3 精密化されるパラメータ
 5-4 Le Bail解析
 5-5 解析用ソフトウエア
 5-6 ソフトウエアJANA2006による解析の実際
 5-7 解析結果の評価
 5-8 解析における注意点

<質疑応答・個別質問・講師との名刺交換>

■ご講演中のキーワード:

結晶構造解析、粉末X線回折、Rietveld解析、高輝度放射光

セミナー番号:AC200208

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