・ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております。
お手数ですが下記公式サイトからZoomが問題なく使えるかどうか、ご確認下さい。
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確認はこちら
＊Skype／Teams／LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomでカメラ・マイクが使えない事があります。お手数ですがこれらのツールはいったん閉じてお試し下さい。
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音声が聞こえない場合の対処例
・Zoomアプリのインストール、Zoomへのサインアップをせずブラウザからの参加も可能です
→
参加方法はこちら
→※一部のブラウザーは音声（音声参加ができない）が聞こえない場合があります、
必ず
テストサイトからチェック下さい。
対応ブラウザーについて（公式）;コンピューターのオーディオに参加に対応してないものは音声が聞こえません
申込み時に（見逃し視聴有り）を選択された方は、見逃し視聴が可能です。
（クリックして展開「▼」）
・原則、開催5営業日後に録画動画の配信を行います（一部、編集加工します）。
・視聴可能期間は配信開始から1週間です。
セミナーを復習したい方、当日の受講が難しい方、期間内であれば動画を何度も視聴できます。
尚、閲覧用URLはメールでご連絡致します。
※万一、見逃し視聴の提供ができなくなった場合、
（見逃し視聴あり）の方の受講料は（見逃し視聴なし）の受講料に準じますので、ご了承下さい。
→こちらから問題なく視聴できるかご確認下さい（テスト視聴動画へ）パスワード「123456」
セミナーポイント
■講師より／本セミナーのポイントや目的
異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへの対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。本講演では、数μm〜の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認できる情報、測定方法、解析方法、問題解決にむけてのアプローチなど、事例を交えながら解説します。中でも、異物分析で最も使用頻度の高いFT-IR分析に焦点を当て、より効果的な分析ができるように、測定方法の違いとそれぞれの方法における異物の分析範囲の違いを確認します。さらに、皆様が悩まれることの多いFT-IRのスペクトル取得後のスペクトル解析に関しての解説も加えて、実際にFT-IRが使用できるようにわかりやすく説明します。
また、異物分析の問題解決に向けては、コミュニケーションが非常に重要となることから、分析の視点だけでなく、いかに情報を得ることで問題を解決していったかにも焦点をあてて事例解説を行います。
分析技術者の方はもちろんのこと、分析にかかわる方にもコミュニケーションの大切さを実感していただき、チーム力での異物対応力の向上に役立てていただきたいと思います。
＊講座を受けられた方には、セミナー後に1案件のみ、講師への質疑応答を受け付けます。この機会にひとつでも多くの疑問を解決し、日常の業務にお役立てください。
■また受講申込者のメールアドレスは講師へ通知させて頂きます。
※講師からのフォロー・情報提供が理由です。
（もし支障のある方はお申し込み時の備考欄にその旨記載願います）
▼受講申込者には「事前アンケート」をお送りします。本セミナーへの要望等を頂けましたら幸いです（回答は任意です）。
※7月5日までに回答を頂いた要望については、当日の内容に反映する予定です。
■受講対象者は？
・分析業務に従事している方
・異物分析や異物トラブル対応をしている方
・異物混入などのクレーム対応を行う部門の方
・異物を分析担当者に持ち込むことのある方
※対象業界は不問です。食品業界の方も工業品業界の方も受講可能です。
■受講することで得られる知識/ノウハウは？
・FT-IRの基本的な測定方法・きれいなスペクトルを得るコツ
・FT-IRによる異物の分析方法
・異物トラブルへの対処方法（分析担当者の立場から）
・異物対応にまつわる関連部署との連携・コミュニケーション方法
セミナー内容
1. はじめに
1.1 本セミナーのポイント
1.2 大切な分析の視点
1.3 分析の目的
2. 異物の概要
2.1 異物とは何か
2.2 異物の種類
3. 異物の分析方法
3.1 異物分析で大切なこと
3.2 異物分析の手順
3.3 製造工程でわかること
3.4 観察でわかること
3.5 異物のサンプリング方法
3.6 現場でのサンプリング失敗例
3.7 異物の情報収集
3.8 コミュニケーションがうまくとれなかった例
3.9 問題解決に向けてのアプローチ
4. FT-IRを使用した異物分析
4.1異物分析の中のFT-IR
4.2 FT-IRの概要
a. FT-IRでどんな情報が得られるのか
b. FT-IR測定での約束事
4.3 異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
4.4 異物の大きさと空間分解能（微小異物への対応）
4.5 測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ
4.6 FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
4.7 スペクトルの解析
a. よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
b. データベースをうまく使う
c. 問題解決のための解析とは何か
5. FT-IR以外の分析装置
5.1 SEM-EDS
5.2 蛍光X線
5.3 GC、GC-MSおよびLC
6. 異物分析の実施例
（FT-IRのみの分析、FT-IRではできない分析、いくつかの分析機器を使用した分析）
6.1 顔料分散不良による異物分析（問題解決提案まで）
6.2 食品中の異物分析（問題解決まで）
6.3 フィルム製品歩留まり向上のための異物分析（問題解決まで）
6.4 塗工紙表面の凹凸筋の原因となる異物分析（問題解決まで）
6.5 発熱体上の異物分析（問題解決まで）
6.6 光沢ムラの分析（問題解決提案まで）
6.7 異臭の分析（問題解決提案まで）
6.8 製品変色の分析（問題解決提案まで）
7. よくある質問
7.1 サンプリングに関すること
7.2 スペクトルに関すること
7.3 その他
8. まとめ
＜質疑応答＞
＊Zoomウェビナーの機能「Q＆A」をご利用いただけます。
＊またお話できる方は、口頭質問も可能です。適宜ミュートを解除致します。
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