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はこちら→ req@johokiko.co.jp



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Zoom見逃し視聴あり


オンライン受講/見逃視聴なし → 

オンライン受講/見逃視聴あり → 

○各手法の原理・得手不得手から、分析箇所の特定および試料の鏡面研磨についての具体的作業手順やポイント、様々な手段を活用した総合的な結果判断、得られた結果を特許に繋げた事例まで。

表面分析を活用した

電子部品の不具合観察・解析と不良対策


〜SEM、EDS/EPMAの基礎から、

取得情報を最大化するためのポイントまで〜

<Zoomによるオンラインセミナー・見逃し配信あり>

講師

栗原光技術士事務所 代表 栗原 光一郎 先生

講師紹介

■ご略歴:
 1984年北海道大学大学院理学研究科化学第二専攻修士課程修了後、日立金属株式会社入社。主にセラミック電子部品の開発〜量産を担当。2007年特許「ガラスセラミックス複合基板」で発明協会中国経済産業局長賞を受賞。同年より知的財産担当。特許出願明細書作成〜国内外での権利化推進、及び他社特許調査・対策を担当。2018年末栗原光技術士事務所を開業。技術士(化学部門・総合技術監理部門)、二級知的財産管理技能士(管理業務)

■ご専門・得意な分野:
<製造業技術・知財コンサルタント>
○製造業、特にセラミック電子部品等での、
1)製品のQCD改善指導・支援
2)製造プロセス設計〜量産化支援 (適切な新製品プロセス開発による、早期製品立上)
○自社技術・製品の保護方策支援、発明創出〜権利化・知財力育成支援、他社特許調査・対策支援


日時・会場・受講料

●日時 2021年10月27日(水) 13:00-17:00 *途中、小休憩を挟みます。

●受講料
 【オンライン受講:見逃し視聴なし】:1名41,800円(税込(消費税10%)、資料付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき30,800円

 【オンライン受講:見逃し視聴あり】:1名47,300円(税込(消費税10%)、資料付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円

 *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

配布資料・講師への質問等について

●配布資料はPDF等のデータで送付予定です。受取方法はメールでご案内致します。
 (開催1週前〜前日までには送付致します)。
*準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申し込みをお願い致します。
(土、日、祝日は営業日としてカウント致しません。)

●当日、可能な範囲で質疑応答も対応致します。
(全ての質問にお答えできない可能性もございますので、予めご容赦ください。)
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり
 無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止致します。
●受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールにてお問い合わせ下さい。 req@johokiko.co.jp

※本講座は、お手許のPCやタブレット等で受講できるオンラインセミナーです。

下記ご確認の上、お申込み下さい(クリックして展開「▼」:一部のブラウザーでは展開されて表示されます)
・PCもしくはタブレット・スマートフォンとネットワーク環境をご準備下さい。
・ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております(20Mbbs以上の回線をご用意下さい)。
 各ご利用ツール別の、動作確認の上お申し込み下さい。
・開催が近くなりましたら、当日の流れ及び視聴用のURL等をメールにてご連絡致します。開催前日(営業日)の12:00までにメールが届かない場合は必ず弊社までご一報下さい。
・その他、受講に際してのご質問・要望などございましたら、下記メールにてお問い合わせ下さい。
 <req@johokiko.co.jp>

Zoom
Zoomを使用したオンラインセミナーとなります(クリックして展開「▼」)
・ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております。
 お手数ですが下記公式サイトからZoomが問題なく使えるかどうか、ご確認下さい。
 → 確認はこちら
 *Skype/Teams/LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomでカメラ・マイクが使えない事があります。お手数ですがこれらのツールはいったん閉じてお試し下さい。
 →音声が聞こえない場合の対処例

・Zoomアプリのインストール、Zoomへのサインアップをせずブラウザからの参加も可能です
 →参加方法はこちら
 →※一部のブラウザーは音声(音声参加ができない)が聞こえない場合があります、
   必ずテストサイトからチェック下さい。
   対応ブラウザーについて(公式);コンピューターのオーディオに参加に対応してないものは音声が聞こえません

見逃し視聴あり
申込み時に(見逃し視聴有り)を選択された方は、見逃し視聴が可能です。
(クリックして展開「▼」)
・原則、開催5営業日後に録画動画の配信を行います(一部、編集加工します)。
・視聴可能期間は配信開始から1週間です。
 セミナーを復習したい方、当日の受講が難しい方、期間内であれば動画を何度も視聴できます。
 尚、閲覧用URLはメールでご連絡致します。
 ※万一、見逃し視聴の提供ができなくなった場合、
 (見逃し視聴あり)の方の受講料は(見逃し視聴なし)の受講料に準じますので、ご了承下さい。

 →こちらから問題なく視聴できるかご確認下さい(テスト視聴動画へ)パスワード「123456」


セミナーポイント

■はじめに:
 本テーマでは、不具合箇所の解析において、比較的身近な表面観察・分析装置であるSEMを中心として、EDS/EPMAの活用について、その原理・特徴、得手不得手を明らかにしながら、観察・分析で得られる情報量の最大化・高度化のためのノウハウをお伝えします。また、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントについて解説いたします。さらには、他の有効な解析手法についても説明いたします。また、解析結果を特許出願〜登録に繋げた事例を紹介いたします。

■受講対象者:
不具合解析でSEM/EDSを使用しているが、更に情報量の最大化、高度化を目指している方

■必要な予備知識、事前に目を通しておくと更に理解が深まる文献など:
SEM等表面分析装置メーカのホームページでの技術解説を参照されることをお勧めします。

■本セミナーで習得できること:
・SEM/EDX、EPMAの基礎知識
・不具合解析での断面研磨観察のノウハウ
・合わせて活用すると有効な解析手段
など

セミナー内容

1.SEMを使いこなし方
 1-1 破断面だけの観察では情報が限られる
 1-2 上(一方向)からだけの観察では本来見えるものも逃してしまう
 1-3 加速電圧で見え方が全然違う
 1-4 スケールの信頼性を確かめ方

2.EDS(EDX)を活用する
 2-1 分析方法の得手不得手<EDSとWDS>
   (主元素が目立って、微量成分は見えにくい)
 2-2 得られているX線情報は表面のピンポイントからではない
 2-3 定量性・マッピングの精度を上げる方法

3.EPMA(WDS/WDX)元素分析で補完
 3-1 微量成分の高感度検出と定量性向上(EDSの欠点を補う)
 3-2 線分析の活用<界面・境界の情報を得る>

4.分析箇所の特定と試料の鏡面研磨
 4-1 観察/分析箇所(断面研磨箇所)の決定方法
 4-2 分析・解析すべき試料の準備
 4-3 樹脂に埋め込んで鏡面研磨
 4-4 具体的研磨手順・方法

5.SEM・EDSに基づく不良対策

6.様々な解析手段活用で総合的判断

 6-1 マイクロフォーカスX線透視像
 6-2 超音波探傷/超音波イメージング
 6-3 その他

7.解析結果からの特許出願

<質疑応答>


■ご講演中のキーワード:
不具合対策、表面分析、SEM、EDS、EDX、EPMA、断面研磨

セミナー番号:AD211023

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