FT−IR 異物分析 オンラインセミナー

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Zoom

FTIRの原理等の基本的事柄に加え、様々な試料や目的への対応法等、実務上の適切なすすめ方について講義!
 異物分析や混合物解析などで実際によく問題となるケースについて、具体的な手順、テクニックを紹介します!

FTIR基礎異物分析への

実践応用テクニックコツ・ノウハウ

<Zoomによるオンラインセミナー>

講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表
兼 大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
大阪産業創造館 相談員 博士(工学)  奥村 治樹 先生

講師紹介

 大手化学メーカー勤務後大手電機メーカー、化学系ベンチャー企業を経て現職
 現在は、ベンチャーから上場企業まで様々な業種の顧問や技術コンサルタントとして、研究開発、製造における課題解決、戦略策定から人事研修などの人材育成などを行っている(詳細はhttp://analysis.ikaduchi.com)。また、学会等での招待講演や国プロにおけるキャリア形成プログラムの講師なども行っている。

→このセミナーを知人に紹介する

日時・会場・受講料

●日時 2021年1月26日(火) 10:30-16:30
●会場 会場での講義は行いません
●受講料 1名47,300円(税込(消費税10%)、資料付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円
      *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。

 ●録音・撮影行為は固くお断り致します。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

配布資料・講師への質問等について

●配布資料は、印刷物を郵送で送付致します。
 お申込の際はお受け取り可能な住所をご記入ください。
 お申込みは4営業日前までを推奨します。
 それ以降でもお申込みはお受けしておりますが(開催1営業日前の12:00まで)、
 テキスト到着がセミナー後になる可能性がございます。


●当日、可能な範囲で質疑応答も対応致します。
(全ての質問にお答えできない可能性もございますので、予めご容赦ください。)
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり
 無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止致します。
●受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールにてお問い合わせ下さい。 req@johokiko.co.jp


※本講座は、お手許のPCやタブレット等で受講できるオンラインセミナーです。

下記ご確認の上、お申込み下さい(クリックして展開「▼」:一部のブラウザーでは展開されて表示されます)
・PCもしくはタブレット・スマートフォンとネットワーク環境をご準備下さい。
・ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております(20Mbbs以上の回線をご用意下さい)。
 各ご利用ツール別の、動作確認の上お申し込み下さい。
・開催が近くなりましたら、当日の流れ及び視聴用のURL等をメールにてご連絡致します。開催前日(営業日)の12:00までにメールが届かない場合は必ず弊社までご一報下さい。
・その他、受講に際してのご質問・要望などございましたら、下記メールにてお問い合わせ下さい。
 <req@johokiko.co.jp>

Zoom
Zoomを使用したオンラインセミナーとなります(クリックして展開「▼」)
・ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております。
 お手数ですが下記公式サイトからZoomが問題なく使えるかどうか、ご確認下さい。
 → 確認はこちら
 *Skype/Teams/LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomでカメラ・マイクが使えない事があります。お手数ですがこれらのツールはいったん閉じてお試し下さい。
 →音声が聞こえない場合の対処例

・Zoomアプリのインストール、Zoomへのサインアップをせずブラウザからの参加も可能です
 →参加方法はこちら
 →※一部のブラウザーは音声(音声参加ができない)が聞こえない場合があります、
   必ずテストサイトからチェック下さい。
   対応ブラウザーについて(公式);コンピューターのオーディオに参加に対応してないものは音声が聞こえません

セミナーポイント

*同業者の方(コンサルタント業等)・及び個人でのお申込みの場合、受講をお断りする場合がございますので、予めご了承下さい。

・本セミナーは、Zoom ミーティングで行います。
・本セミナーでは、受講者のカメラは原則 on にてお願いを致しております。


【要旨】
 FT−IR(フーリエ変換赤外分光法)は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
 ただ、測定が容易になった反面、とりあえず使うという状況が生まれて実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかが分からないまま使用されていることも多い。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての現場での活用に軸足を置いた解説を十分に行っているものは少ない。
 本講座は、FT−IRの原理だけではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務でのFT−IR活用を念頭に構成されている。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、コツ・ノウハウを解説する。

【受講対象】
 ・新入社員から中堅実務層
 ・若手中堅を教育するマネージャー
 ・FTIRの基礎から応用までを学びたい人
 ・異物分析のテクニックを知りたい人
 ・実践的知識とテクニックを修得したい人
 など

【受講によって得られる知識・スキル】
 ・FTIRの基礎知識
 ・各種測定方法
 ・スペクトル解析の考え方
 ・スペクトルサーチのコツ
 ・異物分析の手順・テクニック
 ・混合物解析の手順、テクニック
 など

【セミナー受講特典コンサルティング】

 セミナーを受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

<依頼条件>
 ・初回1回のみ
 ・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
 ・コンサルティング実施時間:4時間程度まで
 ・費用:場所、内容によらず定額の限定受講特典

セミナー内容

1.赤外分光法・FT−IRの基本原理と特徴
 :現場で実際に使用する、活用することに主眼を置いて、吸収ピークの定義や振動―モード、検出器の種類と特徴や使い分けなど、赤外分光法の原理等の基礎的な部分について解説する。

 1.1 赤外分光が見ているもの
 1.2 分光分析における吸収の定義
 1.3 赤外分光の波長領域
 1.4 振動モード
 1.5 気体と液体・固体 (H2O)
 1.6 赤外分光法の長所・短所
 1.7 赤外分光法による評価
 1.8 主な検出器
 1.9 検出器の感度特性


2.代表的な測定法
 :赤外分光法の特徴である様々な測定方法について、その原理や特徴、使い分けから、測定時の注意点、ポイント、コツなどについて実際の測定例なども交えながら解説する。

 2.1 透過法
  2.1.1 透過法
  2.1.2 透過法 : 液体用セル、塗布
  2.1.3 主な窓材
  2.1.4 フリンジ(干渉縞)
 2.2 全反射法(ATR)
  2.2.1 ATR法のバリエーション
  2.2.2 ATR結晶(IRE)の特性
  2.2.3 FTIR−ATRにおける測定深さ
  2.2.4 ATR法における注意点
  2.2.5 ATR補正
  2.2.6 異常分散によるスペクトルへの影響
  2.2.7 様々なATRアタッチメント
  2.2.8 毒劇物としてのATR結晶(IRE)
 2.3 反射法
  2.3.1 反射法
  2.3.2 高感度反射の原理
 2.4 拡散反射法
 2.5 主な測定法のまとめ
 2.6 顕微赤外

3.赤外スペクトル
 :Lambert-Beerの法則に始まる赤外スペクトルの基本から、主な振動モード、吸収体について解説した後、それらを踏まえてスペクトル帰属の考え方から構造解析の方法に詳細に解説する。また、幅広く使用されているスペクトルサーチについてもデータベース選択、アルゴリズム選択の考え方、結果(ヒットスコア)の意味ことになどについて、注意点やコツを交えながら解説する。

 3.1 赤外スペクトルの概要
 3.2 主な振動モード
 3.3 主な吸収帯
 3.4 主な有機系官能基の吸収帯
 3.5 イオン性官能基の吸収帯
 3.6 赤外分光の構造敏感性
 3.7 指紋領域の利用
 3.8 カルボニル基の判別
 3.9 スペクトルサーチ
 3.10 スペクトルデータベース
 3.11 代表的検索アルゴリズム
 3.12 検索アルゴリズムの限界
 3.13 ヒットスコアの罠
 3.14 検索結果の間違い例
 3.15 スペクトルサーチのコツ
 3.16 差スペクトル
 3.17 混合解析
 3.18 オープンライブラリ
 3.19 系統分析
 3.20 スペクトルパターン
 3.21 帰属の考え方
 3.22 ラマン分光法との対比


4.定量分析
 :定性分析、構造解析と共に赤外分光法の利用において重要となる定量分析について、定量分析の原理から、具体的な方法、難しいケースとその対処、誤差要因などについて解説する。

 4.1 検量線法
 4.2 検量線法が適用困難なケース
 4.3 ピーク強度比法
 4.4 誤差要因

5.大気成分補正
 
:赤外分光法の利用において避けて通ることができない体積成分補正について、その方法について具体的な測定フローに沿って解説する。

 5.1 大気成分(CO2、H2O)
 5.2 窒素パージ法
 5.3 差分法

6.測定条件
 
:赤外分光法の測定条件について、主に分解能の影響を中心に解説する。

7.スペクトル処理
 :赤外分光法でほとんどの場合行われているスペクトル処理について、実際に装置内部でどんな処理が行われているのかということから、それらによってスペクトルがどのような影響を受けるのか、使用時の注意点などについて解説する。また、解析において寝やむことの多いピーク高さと面積の関係についても解説する。

 7.1 ベースライン補正
 7.2 スムージング・補間
 7.3 ベースライン(ピーク強度)
 7.4 ピーク高さと面積
 7.5 自動処理の注意点

8.混合物の解析

 :実際の赤外測定においては、単品、純ピンであることはほとんどなく、混合品であることから、混合成分系の赤外スペクトルの解析の方法について、成分分離の方法(ピーク分離、差スペクトル)と注意点・コツ、その他のアプローチについて解説する。

 8.1 混合物のスペクトル
 8.2 ピーク分離
 8.3 差スペクトル
 8.4 ATR法における差スペクトル
 8.5 他手法との組み合わせ

9.異物・微小部

 :赤外分光の利用シーンにおいて外すことができない異物・微小部の解析について、その主役となる顕微赤外分光の原理から実際の活用をサンプリング方法なども交えながら解説する。

 9.1 顕微透過法
 9.2 マイクロサンプリングの検討
 9.3 顕微ATR

10.汚染・付着物

 :汚染や付着物はXPSなどの表面分析手法が用いられることも多いが、化学構造解析のためにATR法も欠かすことができない。ここでは、主に汚染や付着物の解析に特化したATR測定の方法やコツについて解説する。

 10.1 差スペクトル(透過・ATR)
 10.2 ATR転写法
 10.3 その他の方法

11.黒色試料

 :赤外分光法が苦手とする黒色異物の測定法について解説する。

12.高次構造
 :結晶構造解析や融解等の高次構造の変化における赤外分光法の利用について述べる。

 12.1 結晶解析
 12.2 融解

13.FTIRにおける注意点

 :赤外分光測定における様々な注意点をここまでも解説しているが、ここでは、赤外のプロでも気付きにくい測定における落とし穴やスペクトルへの悪影響について説明するとともに、その対処法を解説する。

 13.1 ATRにおける異常分散
 13.2 ATRにおける試料変形の影響
 13.3 ATRにおける試料の置き方の影響
 13.4 ATRにおける押し圧の影響
 13.5 KBrと試料との反応
 13.6 KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
 13.7 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
 13.8 プレスホルダーによる測定(干渉縞)

14.事例

 :実際の測定スペクトルを例として、赤外分光法が利用される様々なケースについて、測定から解析の実際を解説する。

 14.1 フィルム上汚染
 14.2 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
 14.3 精密斜め切削法
 14.4 異物分析

  14.4.1 サンプリングの基本とコツ
  14.4.2 顕微ATR転写法
  14.4.3 片刃の加工
  14.4.4 連続作業
  14.4.5 作業時の試料固定
  14.4.6 試料の切り出し
  14.4.7 サンプリング後の測定
  14.4.8 干渉縞抑制
  14.4.9 イメージングの活用
  14.4.10 こういうのもあり

15.実例
 :実際の解析事例について、より詳細に豊富なデータを交えながら測定から解析を解説する。

 15.1 シミ、変色の分析
 15.2 埋もれた異物のサンプリング
 15.3 顕微赤外を用いたPPフィルム中異物の分析
 15.4 付着物の分析(顕微IR、μ-MS)
 15.5 塗膜ハジキの分析
 15.6 PET/エポキシのIRスペクトル
 15.7 LCDのTFT基板上の欠陥分析
 15.8 マイクロ抽出法による分離分析
 15.9 薬液中の浮遊物の分析


16.その他のコツ・ポイント

17.まとめ

18.質疑


セミナー番号:AG210177

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