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Zoom

製品の市場トラブルを未然防止するための試験・評価法を詳しく解説します!

加速信頼性試験の基礎と

寿命予測・評価の実際


<Zoomによるオンラインセミナー>

講師

M.A信頼性技術オフィス   代表 本山 晃 先生

講師紹介

・日本信頼性学会  関西支部顧問、広報委員
・日本信頼性学会  信頼性試験研究会幹事、故障物性研究会幹事

【ご経歴】
・1977年4月:松下電工(株)入社 綜合技術研究所配属
・2003年〜2012年:Panasonic(株) 解析センター 主幹技師
・2012年〜2015年:大阪大学大学院工学研究科 招聘教員
・2014年11月:Panasonic(株) 退職
・2015年 6月:M.A信頼性技術オフィス 設立
・2017年〜2021年:JAXA 民生コンポーネント活用検討委員


日時・会場・受講料

●日時 2022年2月16日(水) 10:30-16:30
●会場  会場での講義は行いません。
●受講料 1名47,300円(税込(消費税10%)、資料付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円
      *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。

 ●録音・録画行為は固くお断り致します。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

配布資料・講師への質問等について

●配布資料はPDF等のデータで送付予定です。受取方法はメールでご案内致します。
 (開催1週前〜前日までには送付致します)。
*準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申し込みをお願い致します。
(土、日、祝日は営業日としてカウント致しません。)

●当日、可能な範囲で質疑応答も対応致します。
(全ての質問にお答えできない可能性もございますので、予めご容赦ください。)
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり
 無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止致します。
●受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールにてお問い合わせ下さい。 req@johokiko.co.jp

※本講座は、お手許のPCやタブレット等で受講できるオンラインセミナーです。

下記ご確認の上、お申込み下さい(クリックして展開「▼」:一部のブラウザーでは展開されて表示されます)
・PCもしくはタブレット・スマートフォンとネットワーク環境をご準備下さい。
・ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております(20Mbbs以上の回線をご用意下さい)。
 各ご利用ツール別の、動作確認の上お申し込み下さい。
・開催が近くなりましたら、当日の流れ及び視聴用のURL等をメールにてご連絡致します。開催前日(営業日)の12:00までにメールが届かない場合は必ず弊社までご一報下さい。
・その他、受講に際してのご質問・要望などございましたら、下記メールにてお問い合わせ下さい。
 <req@johokiko.co.jp>

Zoom
Zoomを使用したオンラインセミナーとなります(クリックして展開「▼」)
・ご受講にあたり、環境の確認をお願いしております。
 お手数ですが下記公式サイトからZoomが問題なく使えるかどうか、ご確認下さい。
 → 確認はこちら
 *Skype/Teams/LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomでカメラ・マイクが使えない事があります。お手数ですがこれらのツールはいったん閉じてお試し下さい。
 →音声が聞こえない場合の対処例

・Zoomアプリのインストール、Zoomへのサインアップをせずブラウザからの参加も可能です
 →参加方法はこちら
 →※一部のブラウザーは音声(音声参加ができない)が聞こえない場合があります、
   必ずテストサイトからチェック下さい。
   対応ブラウザーについて(公式);コンピューターのオーディオに参加に対応してないものは音声が聞こえません

セミナーポイント

 近年の電子機器商品は小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や超薄型部品が搭載されています。従来よりパターンや素材間の電界強度が大きくなり、市場トラブルの増加が懸念されています。
そこで、本セミナーでは製品の市場トラブルを未然防止するための
 (1)故障時間と故障数や故障の割合の関係など信頼性の基礎知識から
 (2)加速試験条件の設定の仕方やその結果を基にした加速モデル式の設定の仕方
 (3)加速モデル式と市場での使用条件を基に製品の寿命推定の仕方に加えて
 (4)寿命目標をクリアする為のサンプルサイズと試験時間の設定の仕方を 
詳細に紹介致します。

■この講座を受講して得られる情報・知見:
 (1)加速試験の基本を理解し、故障モードに対応した加速試験条件を立案できるようになる
 (2)寿命目標を満足するための試験計画(サンプルサイズ、加速試験のストレスや試験時間)を立案できるようになる

セミナー内容

1. 規格で行われている信頼性試験のサンプルサイズと試験時間を考えよう
 1.1 故障0個でも判るロットの不良の割合を考える(サンプルサイズとの関係)
 1.2 演習1:サンプルサイズ22個で故障0個だった。ロットの不良の割合は?
 1.3 市場での使用時間と加速試験時間との関係を考えよう
 1.4 故障時間と故障の割合の関係を想定しよう
 1.5 目標をクリアする為のサンプルサイズと試験時間の関係を考えよう

2 信頼性の基礎を学ぼう
 2.1 市場での故障時間と故障数の関係を図で書いてみよう
 2.2 信頼性や故障率など信頼性に関わる用語の意味を知ろう
 2.3 図で市場の故障の割合と故障時間の関係を考えよう
 2.4 両者の関係(故障時間分布)をワイブル分布として考えよう

3 加速試験の基礎を学ぼう
 3.1 劣化速度を加速して故障時間を早く知る加速試験
 3.2 温度や電圧などのストレスで劣化速度を加速するモデル
 3.3 加速試験を実際に行う時の重要な取り決め事項
 3.4 加速試験結果をワイブル分布として解析しよう
 3.5 演習2:Excelを用いて故障時間のワイブルパラメータを推定する
 3.6 温度ストレスを用いた加速試験で加速モデル式を推定しよう
 3.7 演習3:温度の加速試験結果を基にした加速モデル式を推定する
 3.8 試験に用いたサンプルが一部故障しなかった場合の解析をしよう
 3.9 温度と湿度ストレスを用いた加速試験で加速モデル式を推定しよう

4. 構成部品の寿命分布から電子機器の寿命予測法を考える
 4.1 電子機器の寿命を予測するための基本的な考え方
 4.2 寿命予測に用いるいろいろな加速モデル式を知ろう
 4.3 温度の加速モデル式を用いて市場使用温度の平均値を推定しよう
 4.4 演習4:サウジアラビアの市場温度の平均値を推定する
 4.5 演習5:モデル式と平均温度を基にサウジアラビアでの寿命時間を推定する
 4.6 演習6:JEITA規格のサンプルサイズと試験時間の関係を理解する
 4.7 電子機器の耐用寿命を予測する具体的なプロセスを体験してみよう

<質疑応答>

セミナー番号:AG220270

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