セミナー:表面・界面の考え方と分析の基礎_2024年3月8日オンライン配信
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Zoom

知っておきたい表面・界面の基礎知識から表面分析・評価手法および
利用するためのアプローチ方法を習得!

表面・界面の考え方と分析の基礎と

実践応用テクニック、ノウハウ


<Zoomによるオンラインセミナー>

講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表
兼 大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
  京都産業21 相談員
  滋賀県産業支援プラザ 相談員
  知財管理技能士  博士(工学)  奥村 治樹 先生

講師紹介

大手化学メーカー勤務後大手電機メーカー、化学系ベンチャー企業を経て現職
現在は、ベンチャーから上場企業まで様々な業種の顧問や技術コンサルタントとして、
研究開発、製造における課題解決、戦略策定から人事研修などの人材育成などを行っている
(詳細はhttp://analysis.ikaduchi.com)。
また、学会等での招待講演や国プロにおけるキャリア形成プログラムの講師なども行っている。

日時・会場・受講料

●日時 2024年3月8日(金) 10:30-16:30
●会場 会場での講義は行いません。
●受講料 1名47,300円(税込(消費税10%)、資料付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円
      *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。

 ●録音・録画行為は固くお断り致します。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

※配布資料等について

●配布資料は、印刷物を郵送で1部送付致します。
・お申込の際にお受け取り可能な住所を必ずご記入ください。
・郵送の都合上、お申込みは4営業日前までを推奨します。(土、日、祝日は営業日としてカウント致しません。)
・それ以降でもお申込みはお受けしておりますが(開催1営業日前の12:00まで)、その場合、テキスト到着がセミナー後になる可能性がございますことご了承ください。
・資料未達の場合などを除き、資料の再配布はご対応できかねますのでご了承ください。


●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。(全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。)
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止致します。

オンラインセミナーご受講に関する各種案内(ご確認の上、お申込みください。)
・PC/タブレット/スマートフォン等、Zoomが使用できるデバイスをご用意ください。
・インターネット 回線速度の目安(推奨) 下り:20Mbps以上
・開催が近くなりましたら、Zoom入室URL、配布資料、当日の流れなどをメールでご連絡致します。開催前日(営業日)の12:00までにメールが届かない場合は必ず弊社までご一報ください。
・受講者側のVPN、セキュリティ設定、通信帯域等のネットワーク環境ならびに使用デバイスの不具合については弊社では対応致しかねますので予めご了承ください。

Zoom
Zoom使用に関する注意事項(クリックして展開)
・公式サイトから必ず事前のテストミーティングをお試しください。
 → 確認はこちら
 →Skype/Teams/LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomで音声が聞こえない、
  カメラ・マイクが使えない等の事象が起きる可能性がございます。
  お手数ですが、これらのアプリは閉じた状態にてZoomにご参加ください。
 →音声が聞こえない場合の対処例

・Zoomアプリのインストール、Zoomへのサインアップをせずブラウザからの参加も可能です。
 →参加方法はこちら
 →一部のブラウザは音声が聞こえない等の不具合が起きる可能性があります。
  対応ブラウザをご確認の上、必ず事前のテストミーティング をお願いします。
  (iOSやAndroidOS ご利用の場合は、アプリインストールが必須となります)

セミナーポイント

*同業者の方(コンサルタント業等)・及び個人でのお申込みの場合、
  受講をお断りする場合がございますので、予めご了承下さい。


・本セミナーは、Zoom ミーティングで行います。
・本セミナーでは、受講者のカメラは原則 on にてお願いを致しております。
・本セミナーでは事前質問は受付しておりません。セミナー終了後の質疑の時間にご質問をお願い致します。
・受講申込者の「メールアドレス」は講師へ通知させて頂きます。
 (講師からのフォロー・情報提供が目的です。不都合がございましたら、申し込みフォームの備考欄にてお知らせ下さい。)


■はじめに
 表面、界面はあらゆる技術や製品の基盤となるものであり、現在扱われる材料やプロセス、技術、商品で表面や界面が関与していないものは無いと言っても過言ではありません。これは言い方を変えると、現代は表面、界面に支配されているとも言えます。そのため、分析手法一つにしても多種多様なものが開発され、利用されています。しかし、一方で表面や、特に界面はまだ未解明な部分も多く、多様な分析方法の選択・活用、そして、表面・界面の姿を明らかにすることは容易ではありません。
 本講では、表面、界面の基礎から、表面分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、実践まで事例を交えて解説します。

■想定される主な受講対象
・研究開発部門、分析部門、製造部門、品質保証部門など技術部門全般
・若手から中堅を中心とした担当者
・部署マネジメント、部下を育成・教育する管理者、マネージャー

■本セミナー受講により得られる知識・ノウハウ・スキルなど
・表面分析の基礎
・表面分析の考え方と活用法
・各種表面分析手法の使い方
・表面、界面の可視化法
・研究開発、問題解決へのフィードバック


【セミナー受講特典コンサルティング】
 セミナーに受講して名刺交換等をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

<依頼条件>

 ・初回1回のみ
 ・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
 ・コンサルティング実施時間:4時間程度まで
 ・費用:場所、内容によらず定額の限定受講特典


セミナー内容

【表面に支配される現代社会】
 イントロダクションとして様々な製品や技術と表面・界面の関係について整理します。
 −膜・界面、そして、現代技術を支配する表面
 −表面・界面の重要性

【表面とは】
 表面という言葉の定義(どこまでの領域なのか)など
 実は日常的に取り扱っていながら良く理解できていない表面について改めて解説します。
 −表面(薄膜)とは?
 −表面のかかわる代表的事象
 −表面の要素
 −表面における現象
 −代表的な表面処理

【界面とは】
 表面と同様に改めてその定義や成り立ちを含めて解説します。
 −界面における現象
 −多層膜による界面形成
 −薄膜化による界面の変化

【表面・界面を支配するもの 】
 表面・界面を知るのはこれを制御するためであることから、
 表面・界面を決定づける要素、要因について解説します。
 −界面形成
 −界面形成を支配する接着
 −界面を形成する力
 −表面・界面形成を支配するもの
 −表面・界面形成因子と評価法
 −表面を支配するには

【表面分析成功のキーポイント 】
 表面・界面を知るために欠かすことができない表面分析を正しく行うための
 注意点、ポイント、ノウハウを解説します。

【サンプルの取り扱い】
 特に慎重な取り扱いが要求される表面・界面分析用試料の取り扱いにおける
 注意点、ポイント、ノウハウを解説します。

【代表的表面分析手法】
 数多くある表面分析手法について、個々にその原理、特徴、分析・解析のポイントなどに解説します。

【表面分析の分類 】
 多種多様な表面・界面分析手法について、
 その特徴や用途などによって分類すると共に、手法選択の考え方について解説します。
 −表面分析に用いる主な手法と選び方
 −表面・微小部の代表的分析手法
 −手法の選択

【接触角測定法】

【X線光電子分光法(XPS,ESCA)】
 −XPSの原理
 −XPSの検出深さ
 −装置構成例
 −XPSの特徴?
 −ワイドスキャン(サーベイスキャン)
 −ナロースキャン(代表的な元素)
 −元素同定
 −化学状態の同定
 −角度変化測定による深さ方向分析
 −チャージアップの影響と対応
 −化学状態による違い
 −チャージアップへの工夫
 −イオンエッチングダメージ
 −エッチング条件と効果
 −エッチング条件とスパッタレート
 −イオンエッチングによるクロスコンタミ
 −ちょっと便利なサイトやソフト
 −ハイブリッド分析

【オージェ電子分光法(AES)】
 −微小領域の元素分析手法
 −AESの原理
 −装置構成例
 −AES測定例
 −界面拡散の分析 1
 −AESによる状態分析例
 −チャージアップ抑制
 −絶縁体上の異物
 −化学状態マッピング
 −XPSとAESの手法の比較

【X線マイクロアナライザ(EPMA)】
 −EPMAの原理
 −元素分布分析(被着体金属基板の断面)
 −積層膜の分析例

【二次イオン質量分析法(SIMS)】
 −SIMSの概念
 −D-SIMSに用いられる質量分析法
 −D-SIMS測定例と特徴
 −TOF-SIMS装置の構成
 −TOF-SIMSの概要
 −TOF-MSの原理
 −TOF-SIMSによる化学構造解析

【フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)】
 −赤外分光法(IR)の原理
 −FT-IRの長所・短所
 −測定法
 −周辺環境の影響
 −主な吸収帯
 −赤外分光の構造敏感性
 −指紋領域の利用
 −系統解析
 −帰属の考え方
 −全反射法(ATR法)
 −ATR法と検出深さ
 −ATR法における注意点
 −In-situ FT-IR

【グロー放電分析(GD)】

【形態を知る】

【SEM、TEM】
 −表面形状と組成
 −SEM−EDS組成分析
 −試験前後の比較
 −SEM観察例
 −試料作製法の比較

【走査型プローブ顕微鏡(SPM)】
 −SPMとは
 −主な走査型プローブ顕微鏡
 −形態観察におけるAFMの位置づけ
 −観察例
 −位相イメージングの例
 −位相像

【界面分析】
 実は非常に奥が深く、難易度が高い、しかし、安易に行われている界面分析の真の理解を得るために
 その基本からテクニックまで実践ノウハウを解説します。

【界面評価の重要性と課題】
 実例を交えながら、適切に界面分析を行い、正しいデータを得るための方法について解説します。
 −界面の例
 −界面の形成
 −界面の分類
 −界面における課題
 −界面分析の重要性
 −一般的深さ方向分析
 −従来法と問題点
 −化学増幅型レジストのD-SIMS分析
 −新しいアプローチ

【解析の実例】
 実際の解析例を用いて、表面分析、界面分析の実務について解説します。

【UV照射による化学構造の評価】

【表面構造変化の解析(XPS)】

【気相化学修飾法】

【化学修飾法を用いたTOFイメージング】

【ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析】

【PI/Cu/Si界面の解析】

【まとめ】と質疑

セミナー番号:AG240331

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