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FT-IR分析(3月24日)のみ参加↓

各種製品に混入する異物の特徴と分析技術(2月25日)/FT-IR分析(3月24日)両日参加↓

★FT-IRの原理・測定フロー・サンプリング等の基礎から、スペクトルの正しい解析と解釈法、樹脂や溶液中の異物、多層材料、毛髪ほか様々な適用例、FT-IRで測定できない場合の代替法まで!
★2月には異物の特徴と分析技術にフォーカスしたセミナーも実施します。
 ぜひ合わせてご検討ください。

FT-IR分析の基礎からスペクトルの解釈、

実践的な活用方法まで

〜製品トラブルや材料開発に関わる課題解決のために〜

【大阪開催】

講師

株式会社住化分析センター 大阪ラボラトリー 技術開発センター
グループリーダー 末広 省吾 先生

* 希望者は講師との名刺交換が可能です

→このセミナーを知人に紹介する

日時・会場・受講料

●日時 2020年3月24日(火) 10:30-16:30
●会場 [大阪・本町]おおきに御堂筋瓦町ビル 2階大会議室 →「セミナー会場へのアクセス」
●受講料
 『FT-IR分析(3月24日)』のみのお申込みの場合
  1名47,300円(税込(消費税10%)、資料・昼食付)
  *1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円

 『各種製品に混入する異物の特徴と分析技術(2月25日)』と合わせてお申込みの場合
  (同じ会社の違う方でも可。※二日目の参加者を備考欄に記載下さい。)
  1名72,600円(税込(消費税10%)、資料・昼食付)
  *1社2名以上同時申込の場合、1名につき61,600円
  ⇒割引は全ての受講者が両日参加の場合に限ります。

  *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。

 ●録音・撮影行為は固くお断り致します。
 ●講義中の携帯電話の使用はご遠慮下さい。
 ●講義中のパソコン使用は、講義の支障や他の方の迷惑となる場合がありますので、極力お控え下さい。
  場合により、使用をお断りすることがございますので、予めご了承下さい。
  *PC実習講座を除きます。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

セミナー開催にあたって

■はじめに:
 FT-IR分析法は、電子顕微鏡では観察することが難しい微細な分子構造を、赤外光を照らしながら“影”を見て推定する手段です。本講座では、様々な材料に対する分析事例を通じて、“影”であるFT-IRスペクトルから情報を得て、材料開発やトラブル解決に活用するポイントについて解説します。また、FT-IR分析で出来ることだけでなく、測定出来ない場合の代替法についても提案します。製品検査、品質管理、機器分析を担当されている技術者の方のみならず、顧客相談窓口、営業の方にも役立つ内容です。

■受講対象者:
 2月(1回目)のセミナーは異物分析におけるFT-IR分析の特徴や活用事例、ならびに他の手法との使い分け等を解説します。3月(2回目)のセミナーでは広く利用されているFT-IR分析に絞って深掘り致します。2回目だけを受講しても基本から理解できる構成ですので、異物分析以外のご関係者の方にも適しています。

■必要な予備知識:
FT-IR分析に興味のある方なら、どなたでも理解しやすいように基本から解説します。材料開発やトラブル解決のためのFT-IR活用のヒントとして、分析担当者以外の方にも参考となります。なお、最後の演習問題では電卓を使用します(スマートフォンの電卓機能で充分です)。

■本セミナーで習得できること:
・材料開発やトラブル解決のためのFT-IR活用策
・装置の維持と結果の是非の判断
・次善の策に向けた様々な分析手法の選択
・IR分析の最近の技術トレンド
など

セミナー内容

(イントロ)FT-IR分析で得られる情報と限界

1.FT-IR分析とは?

 1.1 FT-IR分析の原理および特徴
 1.2 条件設定&測定フロー
 1.3 装置の構成・メンテナンス
 1.4 特性吸収ピークの発生
 1.5 試料形態による測定法の選択
 1.6 試料サンプリング
 1.7 スペクトルの連続取得(ライン分析、イメージングIR)

2.スペクトルの解釈
 2.1 正しいスペクトルが得られているか?
 2.2 スペクトルに現れる特徴とは?
 2.3 官能基領域と指紋領域
 2.4 解析から同定へのフロー
 2.5 ライブラリ検索
 2.6 ラマン分光法との比較・使い分け
 2.7 正しい解析と正しい解釈

3.様々な試料への適用例
 3.1 溶液中の微小異物
 3.2 劣化混入樹脂
 3.3 多層材料(フィルム、インクジェット用紙、LCDパネル)
 3.4 毛髪
 3.5 樹脂の配向(偏光測定、X線測定による支援)
 3.6 インクジェット対応DVD-Rのインク受容層(GC-MSによる支援)
 3.7 潤滑剤(NMRによる支援)

4.新規なアプローチと応用
 4.1 ブレークスルーが必要な理由
 4.2 放射光
 4.3 近接場光
 4.4 光熱変換に基づく測定

5.まとめ
 5.1 問題演習
 5.2 個別相談
(FT-IR分析でお困りのサンプル、写真等をお持ち下さい。その場で相談お受け致します)

■ご講演中のキーワード:
FT-IR分析、サンプリング、スペクトル解析、異物、多層材料、組み合わせ分析

FT-IR分析(3月24日)のみ参加↓

各種製品に混入する異物の特徴と分析技術(2月25日)/FT-IR分析(3月24日)両日参加↓

セミナー番号:AT200322

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