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医薬・機器・化粧・食品系セミナー

★LC/MS、HPLCの基礎とMSの読み方、定量分析のコツとは?
★試料前処理の注意点、トラブルシューティングの解決。


LC/MSの基礎およびLC/MS、LC/MS/MS定量分析入門

講師

エムエス・ソリューションズ(株) 代表取締役 博士(工学) 橋 豊 先生
横浜市立大学 客員教授

* 希望者は講師との名刺交換が可能です

講師紹介

■主経歴
・1990年日本電子(株)入社
応用研究センター研究員;LC/MSを用いた応用研究、LC-MS装置制御ソフトウェアの開発、ナノESIイオン源の開発、マイクロチップと分析機器を組み合わせたデバイス開発
・2010年日本電子(株)退社、エムエス・ソリューションズ(株)設立、代表取締役

■専門・得意分野
質量分析全般、LC/MSおよびLC/MS/MSによる定性・定量分析、マススペクトル解析

■本テーマ関連の学会・協会・団体等
日本質量分析学会、液体クロマトグラフィー研究懇談会

→このセミナーを知人に紹介する

日時・会場・受講料

●日時 2018年11月22日(木) 10:30-16:30
●会場 [東京・大井町]きゅりあん5階第1講習室 →「セミナー会場へのアクセス」
●受講料 1名46,440円(税込(消費税8%)、資料・昼食付)
 *1社2名以上同時申込の場合、1名につき35,640円
      *学校法人割引;学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。

 ●録音・撮影行為は固くお断り致します。
 ●講義中の携帯電話の使用はご遠慮下さい。
 ●講義中のパソコン使用は、講義の支障や他の方の迷惑となる場合がありますので、極力お控え下さい。
  場合により、使用をお断りすることがございますので、予めご了承下さい。
  *PC実習講座を除きます。


■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →

セミナーポイント

■セミナーポイント
 本セミナーは、LC/MSとLC/MS/MSによる定量分析の入門編です。LC/MSやLC/MS/MSによる定量分析では、SIM法やSRM法などの測定によって得られたクロマトグラムおよびその強度情報から計算された定量値を扱う場合が殆どです。最近のLC-MS装置、特に定量分析に用いられる機種は、非常に操作性が良くブラックボックス化して来ています。しかし、質量分析はそもそもマススペクトルを解析する学問であり、質量分析計は破壊分析の装置という事もあり、まだ完全にブラックボックスとして扱える装置ではありません。LC/MS, LC/MS/MSによる定量分析において良い結果を得るための糸口は、
 @装置の原理を理解している
 Aマススペクトルを解析できる
その先にある場合が多いのが現実です。
 本セミナーでは、先ずは「LC/MSの基礎」として装置の原理やマススペクトル解析に関する解説を行います。その後「LC/MS、LC/MS/MS定量分析入門」として、LC/MSやLC/MS/MSにおける定量分析に関する基本的な考え方や測定法、陥りやすい問題やトラブルシューティングなどについて解説します。

■受講後、習得できること
・マススペクトルの基本的な読み方
・HPLCの基本原理
・エレクトロスプレーイオン化法(ESI)の原理
・四重極質量分析計その他代表的な質量分析計の原理
・LC/MSにおける定量分析のコツ
・LC-MSの各種パラメーターについて

セミナー内容

1.LC/MSの基礎
 1.1 LC-MSの構成
 1.2 LC/MSで得られるデータ
 1.3 エレクトロスプレーイオン化法(ESI)の原理
 1.4 四重極質量分析計その他代表的な質量分析計の原理
2.HPLCの基礎
 2.1 クロマトグラフィーの原理
 2.2 移動相溶媒の選択
 2.3 カラムの選択
3.マススペクトルについて
 3.1 マススペクトルから得られる情報
 3.2 ESIによって得られるイオン種とマススペクトル解析の基礎
 3.3 MS/MSによって得られるマススペクトル解析の基礎
4.LC/MS、LC/MS/MS定量分析入門
 4.1 LC/MS(/MS)による定量分析のメリット
 4.2 LC/MSによるSIMとLC/MS/MSによるSRM
 4.3 SIMにおける定量イオンの選択について
 4.4 SRMにおけるトランジッションの設定について
 4.5 LC-MSの各種パラメーターについて
 4.6 ESIとマトリックス効果
5.試料の前処理
 5.1 代表的な試料前処理法(除タンパク法、液液抽出法、固相抽出法)
 5.2 LC/MSにおける試料前処理の注意点
 5.3 固相のバリエーション
6.トラブルシューティング
 6.1 感度が突然低下した
 6.2 シグナルが不安定になった
 6.3 再現性が悪い
 6.4 バックグランドイオン強度が高い
 6.5 日常的なメンテナンス
7.まとめ(質疑応答)

セミナー番号:AA181192

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