★AI用半導体で重要となる論理回路のテストの詳細から半導体の故障診断技術まで、
最近の動向をふまえ解説します。
半導体テスト技術の基礎・現状および
歩留まり・テスト品質向上のための技術動向
＜Zoomによるオンラインセミナー：見逃し視聴有り＞
講師
（株）EVALUTO 講師・技術コンサルタント 工学博士 畠山 一実 氏
講師紹介
＊ご略歴：
日立製作所、ルネサステクノロジ、半導体理工学研究センターおよび奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術に関する研究開発に従事。その後、群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに、日本大学生産工学部ほかにて非常勤講師を担当。現在は株式会社EVALUTOにて講師・技術コンサルタントを務める。
＊ご専門および得意な分野・研究：
テスト設計技術，高信頼化システム技術
＊本テーマ関連のご活動：
IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council, Asia Pacific Regional Chair
電子情報通信学会 査読委員
「はかる×わかる半導体」シリーズ（分担執筆）
11月19日『半導体設計入門』とセットで受講が可能です。
講義内容はこちら→
日時・会場・受講料
●日時 2025年11月12日（水） 10:30-16:30
●会場 会場での講義は行いません。
●受講料
『半導体テスト技術（11月12日）』のみのお申込みの場合
【オンラインセミナー（見逃し視聴なし）】：1名50,600円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき39,600円
【オンラインセミナー（見逃し視聴あり）】：1名56,100円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき45,100円
『半導体設計入門（11月19日）』と合わせてお申込みの場合
（同じ会社の違う方でも可。※二日目の参加者を備考欄に記載下さい。）
【オンラインセミナー（見逃し視聴なし）】：1名83,600円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき72,600円⇒割引は全ての受講者が両日参加の場合に限ります
【オンラインセミナー（見逃し視聴あり）】：1名92,400円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき81,400円⇒割引は全ての受講者が両日参加の場合に限ります
＊学校法人割引；学生、教員のご参加は受講料50％割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認下さい。
●録音・撮影行為は固くお断り致します。
■ セミナーお申込手順からセミナー当日の主な流れ →
※配布資料等について
●配布資料はPDF等のデータで配布致します。ダウンロード方法等はメールでご案内致します。
・配布資料に関するご案内は、開催1週前～前日を目安にご連絡致します。
・準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申し込みをお願い致します。
（土、日、祝日は営業日としてカウント致しません。）
・セミナー資料の再配布は対応できかねます。必ず期限内にダウンロードください。
●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。（全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。）
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止致します。
●ご受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールアドレス宛にお問い合わせください。
req@*********（*********にはjohokiko.co.jpを入れてください）
オンラインセミナーご受講に関する各種案内（ご確認の上、お申込みください。）
・PC／タブレット／スマートフォン等、Zoomが使用できるデバイスをご用意ください。
・インターネット 回線速度の目安（推奨） 下り：20Mbps以上
・開催が近くなりましたら、Zoom入室URL、配布資料、当日の流れなどをメールでご連絡致します。開催前日（営業日）の12：00までにメールが届かない場合は必ず弊社までご一報ください。
・受講者側のVPN、セキュリティ設定、通信帯域等のネットワーク環境ならびに使用デバイスの不具合については弊社では対応致しかねますので予めご了承ください。
Zoom使用に関する注意事項（クリックして展開）
・公式サイトから必ず事前のテストミーティングをお試しください。
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確認はこちら
→Skype／Teams／LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomで音声が聞こえない、
カメラ・マイクが使えない等の事象が起きる可能性がございます。
お手数ですが、これらのアプリは閉じた状態にてZoomにご参加ください。
→
音声が聞こえない場合の対処例
・Zoomアプリのインストール、Zoomへのサインアップをせずブラウザからの参加も可能です。
→
参加方法はこちら
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対応ブラウザをご確認の上、必ず事前のテストミーティング をお願いします。
（iOSやAndroidOS ご利用の場合は、アプリインストールが必須となります）
申込み時に（見逃し視聴あり）を選択された方は、見逃し視聴が可能です。
（クリックして展開）
・見逃し視聴ありでお申込み頂いた方は、セミナーの録画動画を一定期間視聴可能です。
・セミナーを復習したい方、当日の受講が難しい方、期間内であれば動画を何度も視聴できます。
・原則、遅くとも開催4営業日後までに録画動画の配信を開始します（一部、編集加工します）。
・視聴期間はセミナー開催日から4営業日後を起点に1週間となります。
ex) 2/6（月）開催 セミナー → 2/10（金）までに配信開始 → 2/17（金）まで視聴可能
※メールにて視聴用URL・パスワードを配信します。配信開始日を過ぎてもメールが届かない場合は必ず弊社までご連絡ください。
※準備出来しだい配信致しますので開始日が早まる可能性もございます。その場合でも終了日は変わりません。
上記例の場合、2/8（水）から開始となっても2/17まで視聴可能です。
※GWや年末年始・お盆期間等を挟む場合、それに応じて弊社の標準配信期間設定を延長します。
※原則、配信期間の延長は致しません。
※万一、見逃し視聴の提供ができなくなった場合、
（見逃し視聴あり）の方の受講料は（見逃し視聴なし）の受講料に準じますので、ご了承ください。
→見逃し視聴について、
こちらから問題なく視聴できるかご確認ください。（テスト視聴動画へ） パスワード「123456」
セミナーポイント
ChatGPTやGemini等の生成AIの普及とともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、自動運転車やスマートシティなどでも電子機器が中心的な役割を担っています。一方、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスにもなっており、半導体集積回路やそれを利用するシステムの品質及び信頼性は益々重要となっています。
このような背景のもと、これらの重要な要件を支える技術として、半導体テストへの注目が高まっています。
そこで、本講演では、半導体テストについて基礎から分かりやすく紹介します。
とくに、AI用途などの半導体で非常に重要となる論理回路のテストに関して、実際にテストに使用するテストパターンを作成する「テスト生成」、及び、テスト生成を実用的な時間で実行可能にする「テスト容易化設計」について、品質とコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。
また、テスト結果を歩留まり向上につなげる技術として故障診断についても概説します。
さらに、最新の技術動向として、自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」及びテスト技術への「AI」の応用について、最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。
○受講対象：
半導体を利用したシステムの開発や製造、品質保証に従事されている方
○受講後、習得できること：
論理回路を含む半導体デバイスのテストに関する基礎知識が得られるとともに、これを用いたシステムの開発や製造、品質保証などの実務遂行におけるテストの重要性を理解できる。
セミナー内容
1．半導体のテストについて
1) 半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
2) テストの種類とテスト装置
3) テストコスト
4) テスト品質
2．テスト設計技術
1) テスト生成技術
a) 論理回路のテスト
b) 故障モデル
c) 故障シミュレーション
d) テスト生成アルゴリズム
2) テスト容易化設計技術
a) スキャン設計
・スキャン方式
・スキャンテスト
b) 組込み自己テスト(BIST)
・ロジックBIST
・メモリBIST
c) 圧縮スキャンテスト
3．故障診断技術
1) 故障診断と故障解析
2) 故障診断手法
・原因結果法
・結果原因法
4．歩留まり・テスト品質向上のための技術動向
1) 高品質テスト技術
a) ロジックテストの高品質化
・故障モデルの高度化
・ロジックBISTの高度化
b) アナログテストの高品質化
・欠陥ベーステスト
・アナログテスト容易化設計
2) テストへのAI応用
a) AI応用によるコスト低減
・アダプティブテスト
・アナログテストの効率化
b) AI応用による品質向上
・異常値スクリーニング
c) AI応用による歩留り向上
・ウェハマップ解析
・故障診断
5．まとめ
＜質疑応答＞
セミナー番号：AI2511V1
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