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半導体洗浄の基礎とCMP後洗浄の技術トレンドがわかります!
講師
三菱ケミカル株式会社 アドバンストソリューションズビジネスグループ
技術戦略本部 情電技術部 半導体前工程 主席研究員 竹下 寛 氏
【略歴】
2001年 京都大学大学院理学研究科化学課程修了(理学修士)
同年三菱化学(株)入社
同社分析部門、神奈川科学技術アカデミー派遣研究員、三菱化学メディア(株)を経て、半導体製造プロセス材料の開発に携わる
【専門】
情報電子分野の材料設計および機能評価・解析
【本テーマ関連学協会での活動】
Advanced Metallization Conference(ADMETA) 論文委員
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日時・受講料・お申込みフォーム
●日時:2025年7月9日(水) 13:30-16:30 *途中、小休憩を挟みます。
●受講料:
【オンライン受講(見逃し視聴なし)】:1名 40,700円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき29,700円
【オンライン受講(見逃し視聴あり)】:1名 46,200円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき35,200円
*学校法人割引:学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認ください。
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セミナーポイント
■はじめに
半導体の微細化は、ALDやALEによる原子レベルの成膜・加工に加えて、EUV光源の開発、リソグラフィーへの適用により、nmレベル構造体の製造技術の結集となっています。一方で、微細欠陥低減のために高機能洗浄プロセスが必要となりますが、洗浄は経験・ノウハウに頼るところが多く、体系的に学習しにくい分野の一つです。本講座の前半では、ウェハ洗浄技術の基礎を概説するとともに、CMPおよび後洗浄プロセスで起きているトレンドについて俯瞰したいと思います。また後半では、CMP後洗浄の技術に焦点を当て、配合成分と機能の相関、機能設計をする上で重要な評価・解析手段について紹介、解説を考えています。
■想定される主な受講対象者
半導体チップメーカ、半導体装置メーカ、材料サプライヤでウェットまたはCMP関連業務に携わる初学者の方、中堅で知識を整理したい方。特に洗浄工程や表面分析に興味のある方。あるいは当該分野で幅広い知識を得たい営業担当の方。
■本セミナーに参加して修得できること
・半導体洗浄技術の基礎
・CMPおよび後洗浄技術のトレンド
・洗浄メカニズムの理解と洗浄剤の機能設計技術
・洗浄性、洗浄機能を評価する分析手法
セミナー内容
1. 半導体洗浄の基礎
1-1. 半導体ロードマップと洗浄対象
1-2. ウェット洗浄に求められる機能と課題
1-3. 洗浄プロセスと洗浄装置
2. 半導体表面の汚染除去
2-1. 序論
2-2. RCA洗浄など典型的な洗浄組成の紹介
2-3. パーティクル汚染と除去
2-4. 有機物汚染と除去
2-5. 金属(メタル)汚染と除去
3. CMP後洗浄剤技術
3-1. CMPプロセス
3-2. CMP後洗浄とは
3-3. CMP後洗浄におけるトレンド
4. CMP後洗浄剤の機能設計
4-1. 洗浄対象
4-2. 洗浄課題
4-3. 洗浄メカニズム
4-4. 洗浄剤成分と配合設計
4-5. 酸性洗浄剤とアルカリ性洗浄剤の比較
4-6. 先端デバイス向けプロセスにおける特定課題
(次世代配線金属、ハイブリッドボンディングなどの工程)
5. 洗浄表面の評価技術
5-1. 製造プロセスにおけるウェハ洗浄後検査
5-2. 砥粒除去性の評価
5-3. 残渣除去性の評価
5-4. 腐食評価、表面の酸化状態の解析
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