……Zoomオンライン受講
……見逃し視聴選択可
材料・デバイス開発へのデータ活用を基礎から解説！
具体的事例でデータ駆動型アプローチの理解を深めよう！
講師
奈良先端科学技術大学院大学 データ駆動型サイエンス創造センター
先端科学技術研究科 物質創成科学領域 教授 博士（工学） 冨谷 茂隆 氏
■略歴：
ソニー株式会社にて、材料解析、半導体レーザデバイスの開発、半導体製造技術に長年従事。ソニーグループ（株）/ソニーセミコンダクタソリューションズ(株) 材料解析センターの統括部長（センター長）として、材料解析・物性シミュレーション・マテリアルズインフォマティクスの連携を推進し、また、ソニーグループ(株) コーポレート技術戦略部門のCorporate Distinguished Researcherとして全社の材料開発戦略をリード。東京工業大学特任教授として二次元半導体材料の研究に携わり、2023年より奈良先端科学技術大学院大学 教授として計測インフォマティクスの教育・研究に取り組む。応用物理学会フェロー。
■専門および得意な分野・研究：
半導体材料物性、半導体デバイス、材料解析技術、計測インフォマティクス
■本テーマ関連学協会での活動：
応用物理学会 インフォマティクス応用研究会, 副委員長
日本学術振興会 R073 先端計測分析技術の未来創成委員会, 副委員長
日本学術振興会 R031ハイブリッド量子ナノ技術委員会, 材料分科主査
NEDO 国立研究開発法人 新エネルギー・産業技術総合開発機構, 技術委員
(一社) ワイドギャップ半導体学会 監事
電子材料シンポジウム, 運営委員
＜その他関連セミナー＞
シミュレーション・分析技術 一覧はこちら
日時・受講料・お申込みフォーム
●日時：2025年7月16日(水) 13:30-17:00 ＊途中、小休憩を挟みます。
●受講料：
【オンライン受講（見逃し視聴なし）】：1名 45,100円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき34,100円
【オンライン受講（見逃し視聴あり）】：1名 50,600円(税込（消費税10％）、資料付)
＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき39,600円
＊学校法人割引：学生、教員のご参加は受講料50％割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認ください。
●録音・録画行為は固くお断りいたします。
お申込みはこちらから
配布資料・講師への質問など
●配布資料はPDFなどのデータで配布いたします。ダウンロード方法などはメールでご案内いたします。
・配布資料に関するご案内は、開催1週前～前日を目安にご連絡いたします。
・準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申込みをお願いいたします。
（土、日、祝日は営業日としてカウントしません。）
・セミナー資料の再配布は対応できかねます。必ず期限内にダウンロードください。
●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。（全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。）
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止いたします。
●ご受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールアドレス宛にお問い合わせください。
req@*********（*********にはjohokiko.co.jpを入れてください）
オンラインセミナーご受講に関する各種案内（必ずご確認の上、お申込みください。）
※メールアドレスの記載誤りについては、以下へご連絡お願いいたします。
req@*********（*********にはjohokiko.co.jpを入れてください）
→Skype／Teams／LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomで音声が聞こえない、カメラ・マイクが使えないなどの事象が起きる可能性がございます。お手数ですが、これらのアプリは閉じた状態にてZoomにご参加ください。
→音声が聞こえない場合の対処例
→一部のブラウザは音声が聞こえないなどの不具合が起きる可能性があります。
対応ブラウザをご確認の上、必ず事前のテストミーティング をお願いします。
（iOSやAndroidOS ご利用の場合は、アプリインストールが必須となります）
→見逃し視聴について、 こちらから問題なく視聴できるかご確認ください。（テスト視聴動画へ）パスワード「123456」
＜見逃し視聴ご案内の流れ・配信期間詳細＞
セミナーポイント
■はじめに：
本セミナーでは、主に半導体を対象に材料・デバイスの研究開発において重要性を増す「計測インフォマティクス」に注目し、材料解析技術とデータ科学を融合した新たなアプローチについて解説します。従来の評価手法に加えて、主成分分析やベイズ推論、深層学習などを用いた実践的な解析事例を紹介し、研究開発の効率化・高精度化に貢献する視点を提供します。さらに、電子ラボノートや研究DX・RXといった研究環境のデジタル化動向にも触れ、計測を基点とした次世代の研究・開発のあり方を考察します。
■受講対象者：
・材料・デバイスの研究開発に従事されている方
・材料評価・物性計測における先端技術の導入を検討している技術者・研究者
・材料・デバイス分野でインフォマティクスやデータ解析手法の活用を目指す方
・新しい研究開発手法の革新を目指す企画・マネージメントに関与する方
■本セミナーで習得できること：
・計測とデータ科学を融合したアプローチへの基本的な理解
・材料・デバイス開発における課題への新たな視点の獲得
・計測インフォマティクスの活用に向けた着想やヒントの取得
・多様な解析手法や考え方の整理と理解の促進
・研究開発におけるデータ活用の方向性についての気づき
セミナー内容
■ 第1部：研究開発パラダイムの変化とデータ科学の役割
1-1. 材料・デバイス開発における現状と課題
1-2. 科科学研究のパラダイムシフトとデータ駆動型アプローチ
1-3. 材料・デバイス研究開発・製造におけるデータ科学の位置づけ
■ 第2部：材料解析技術の基礎と最先端技術 〜代表例を交えて〜
2-1. 材料の不完全性と評価技術について
2-3. 原子構造・組成を可視化する解析手法
— 透過電子顕微鏡（TEM）x 三次元アトムプローブ（3DAP） —
2-3. 異種材料界面の分析技術
— X線光電子分光（XPS） × TEM × 3DAPによるマルチモーダル評価 —
2-4. 結晶・分子配向の評価手法
— 微小角X線回折 (GIXD) × p-偏光多角入射分解分光法 (pMAIRS) —
2-5. 微小領域の電場分布の可視化
— 透過電子顕微鏡を用いた微分位相コントラストイメージング (DPC)—
■ 第3部：計測インフォマティクスと研究・開発の未来
3-1. 計測インフォマティクスとは何か？
3-2. 具体的な事例の紹介
・多変量解析によるEDXスペクトルイメージングの成分分離
・主成分分析(PCA)による複雑なEELSスペクトルの特徴抽出
・非負値行列分解（NMF)による発光スペクトルイメージングの因子分解
・ベイズ推論による発光寿命スペクトル解析
・深層学習による画像セグメンテーションと物体認識
・非剛体レジストレーションによる構造・組成のマルチモーダル統合解析
・Vision Transformerを用いたX線回折スペクトルの分類
3-3. 計測のDX・RXにおける役割と展望
・電子ラボノート（ELN）とデータ管理の連携
・研究開発のデジタルトランスフォーメーション戦略
※ RX：Research Transformation（リサーチトランスフォーメーション）
＜質疑応答＞
お申込みはこちらから
