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粒子分散・界面現象を分析法と物理化学で実践的に整理!
講師
株式会社カワノラボ 代表取締役 博士(理学)河野 誠 氏
【略歴】
2011年
大阪大学大学院理学研究科化学専攻にて博士学位取得
磁場を用いた新しい粒子分析法にて科学技術振興機構A-STEP若手起業家タイプに採択され、プロジェクトリーダーとして大阪大学産学連携本部にて特任研究員として所属。
2014年 退職
2015年 株式会社カワノラボ設立 代表取締役として従事 現職
2015年 山口大学先端分析研究推進体外部委員 現任
2016年 国立がん研究センター研究所外来研究員 現任 現在に至る
【専門】
分析化学、界面科学、磁気科学
【本テーマ関連学協会での活動】
山口大学先端分析研究推進体外部委員
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日時・受講料・お申込みフォーム
●日時:2026年5月15日(金) 10:30-16:30 *途中、お昼休みや小休憩を挟みます。
●受講料:
【オンライン受講(見逃し視聴なし)】:1名 50,600円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき39,600円
【オンライン受講(見逃し視聴あり)】:1名 56,100円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき45,100円
*学校法人割引:学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認ください。
*5名以上でのお申込の場合、更なる割引制度もございます。
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配布資料・講師への質問など
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・配布資料に関するご案内は、開催1週前~前日を目安にご連絡いたします。
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●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。(全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。)
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セミナーポイント
■はじめに
粒子を扱う技術者にとって、日々の実験で分散の不安定さや泡立ち、または分析手法に困る現象に出会うことも多いかと思います。その際の解決方法を探るための一歩として、もう一度基本に戻って考える時間を作りませんか?
本セミナーでは、粒子の在り方から一般的な粒子分析法、そして我々が研究を続ける磁場を用いた粒子と粒子界面の分析についてお話します。
■想定される主な受講対象者>
・電池材料、電子材料、インク・色材、樹脂ペースト等の分散系材料を扱う技術者
・粒径測定・ゼータ電位測定など装置は持っているが、結果の解釈に悩んでいる方
・そもそも、粒子や界面の分析にどんな装置があるのかを知りたい方
・分散が安定しない、凝集・沈殿が起きる原因を理論的に理解したい方
・測定手法ごとの違いや限界を整理したい分析・評価担当者
・単一粒子レベルでの評価や界面・濡れ性に関心のある方
・分析データの主成分分析について知りたい方
■本セミナーに参加して修得できること
・基本的な粒子に関わる物理化学的知識
・磁場を用いた粒子分析法による1粒子ごとの分散評価
・粒子の一般的な分析方法
セミナー内容
1.はじめに
1.1 “分析する”意義について
1.2 粒子を知るために必要な知識について
1.3 “粒子とは何か?” どこまで分子でどこから粒子なのか
1.4 分子の分析法と粒子の分析法の違い
1.5 粒子固有の物理現象を考える
1.6 分子と粒子の違い、気体分子と気泡から考える
1.7 気泡形状と界面の様子
1.8 固体粒子、油滴、気泡の違いについて
1.9 形状決定因子は溶媒分子側にある?物理化学的に考える
2.粒子分析に必要な“物理”の基礎知識
2.1 粒子の諸現象を熱力学で考える
2.2 静電的な現象
2.3 分散力 瞬間的な分極現象
2.4 距離に依存する“力”
2.5 自由エネルギーの観点から粒子の分散性など考える
2.6 凝集・沈殿が生じる現象 化学平衡と自由エネルギー
2.7 距離に依存する力と系全体に働くエネルギー
2.8 粒子の特徴 ブラウン運動
2.9 分散性 界面張力、界面自由エネルギー
2.10 粒子表面
2.11 粒子表面の揺らぎ 粒子表面を分子レベルで考える
2.12 粒子表面分子と溶媒吸着層の動的な挙動
2.13 粒子表面のイオン種の挙動 界面電位
2.14 ゼータ電位の定義
2.15 ゼータ電位と電気二重層
2.16 ゼータ電位の測定法
3.粒子分析に必要な“分析化学”の基礎知識
3.1 “精度”と“確度”の違い
3.2 “分かる”と“分ける” ―検出と分離-
3.3 分光分析の基礎 Jablonski diagramの理解
3.4 光を使った分析法 吸収と発光
3.5 色素や蛍光材料の機能指標 吸光係数と蛍光量子収率
3.6 光を使った分析法 紫外、可視領域
3.7 光を使った分析法 IRとラマン
3.8 有機物の分析法 質量分析法
3.9 高分子の分析法 ガスクロマトグラフィ質量分析法
3.10 金属の分析法 誘導結合プラズマ発光・質量分析法
3.11 金属の分析法 X線を使った分析の基礎
3.12 分析化学の粒子への応用“粒子均一性”とは?
3.13 粒子をどう区別するか 異物と製品の差について
4.粒子及び界面分析法概論
4.1 粒子の大きさと分析法の分類
4.2 粒子の大きさの定義
4.3 光学顕微鏡での粒子像観察と画像解析、AIの活用
4.4 光学顕微鏡の粒子像解析法
4.5 走査型電子顕微鏡(SEM])・透過型電子顕微鏡(TEM)での粒子評価
4.6 原子間力顕微鏡(AFM)での粒子形状評価
4.7 表面張力の原理と準弾性レーザー散乱法での表面張力波測定
4.8 高濃度試料(スラリー)の界面張力評価 AFM粘弾性測定
4.9 多数粒子の粒径測定の考え方
4.10 動的光散乱法による粒径測定法
4.11 レーザー回折法による粒径測定法
4.12 レーザー散乱検出による粒子ブラウン運動直接解析法
4.13 着色溶液、着色粒子の測定について
4.14 ナノメジャーRによる粒径測定の利点
4.15 粒度分布では粒子材質の違いが分からない
4.16 “粒子の違い”の定義
4.17 粒子物性とその分析
4.18 単一粒子の成分分析(1) 電子顕微鏡下での元素分析
4.19 単一粒子の成分分析(2) 顕微ラマン測定
4.20 単一粒子の成分分析(3) 顕微IR測定
4.21 単一粒子の成分分析(4) X線を用いた分析
4.22 多数粒子の成分分析(1) 燃焼による元素分析
4.23 多数粒子の成分分析(2) 誘導結合プラズマ発光・質量分析法による金属元素の精密分析
4.24 多数粒子の成分分析(3) ガスクロマトグラフィによる揮発成分分析
4.25 多数粒子の成分分析(4) 高速液体クロマトグラフィによる有機成分の分析
4.26 多数粒子の成分分析(5) ゲル濾過による粒子分離と分離後の分析
4.27 多数粒子の物性測定 ゼータ電位測定
5.磁化率を用いた粒子評価法
5.1 磁化率とは
5.2 磁化率による粒子評価の原理
5.3 なぜ濡れ性など溶媒親和性を評価できるのか
5.4 磁気泳動法による粒子体積磁化率測定
5.5 粒子成分均一性評価
5.6 細孔内に侵入した溶媒体積の測定
5.7 トナーの分析例
5.8 細胞の測定例
5.9 界面活性剤・分散剤の吸脱着のモニタリング
5.10 電池材料評価
5.11 その他分析例の紹介
5.12 SP値との相関
6.新しい分析法について
6.1 タンパク質高次構造と円偏向測定
6.2 遠心液膜法による界面分析と会合体形成
6.3 磁気泳動とナノ粒子解析
質疑応答
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