……Zoomオンライン受講
……見逃し視聴選択可
★表面現象の理解や各種分析手法の原理・特徴等、
表面分析を進める上で知っておきたい基礎知識を習得!
講師
合同会社I・R・D CEO 博士(理学) 古田 啓 氏
講師紹介
*ご略歴:
1992年から民間企業4社に勤務。非破壊検査、薄膜形成等様々な技術開発・研究開発を担当。また、市場調査をふまえた新技術の開発、上市、生産部門への技術移管、技術支援、知財管理、営業支援、等にも従事。
2024年1月、経営・技術のコンサルティングファーム(合同会社I・R・D)を設立、現在に至る。第1種放射線取扱主任者、中小企業診断士、1級知的財産管理技能士(特許、ブランド)。
*ご専門および得意な分野・研究:
機器分析、放射線計測、表面処理、MOT(技術経営)、知財管理
<その他関連セミナー>
表面・界面技術:コーティング・接着・ぬれ性等 一覧はこちら
日時・受講料・お申込みフォーム
●日時:2025年11月27日(木) 10:30-16:30 *途中、お昼休みや小休憩を挟みます。
●受講料:
【オンライン受講(見逃し視聴なし)】:1名 50,600円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき39,600円
【オンライン受講(見逃し視聴あり)】:1名 56,100円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき45,100円
*学校法人割引:学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認ください。
●録音・録画行為は固くお断りいたします。
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配布資料・講師への質問など
●配布資料はPDFなどのデータで配布いたします。ダウンロード方法などはメールでご案内いたします。
・配布資料に関するご案内は、開催1週前~前日を目安にご連絡いたします。
・準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申込みをお願いいたします。
(土、日、祝日は営業日としてカウントしません。)
・セミナー資料の再配布は対応できかねます。必ず期限内にダウンロードください。
●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。(全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。)
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止いたします。
●ご受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールアドレス宛にお問い合わせください。
req@*********(*********にはjohokiko.co.jpを入れてください)
オンラインセミナーご受講に関する各種案内(必ずご確認の上、お申込みください。)
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→音声が聞こえない場合の対処例
→一部のブラウザは音声が聞こえないなどの不具合が起きる可能性があります。
対応ブラウザをご確認の上、必ず事前のテストミーティング をお願いします。
(iOSやAndroidOS ご利用の場合は、アプリインストールが必須となります)
→見逃し視聴について、 こちらから問題なく視聴できるかご確認ください。(テスト視聴動画へ)パスワード「123456」
<見逃し視聴ご案内の流れ・配信期間詳細>
セミナーポイント
表面分析は、ナノテクなどの先端技術の開発や、品質管理、トラブル対応、他に欠かせない。近年の表面分析装置の操作性は高いため、マニュアルに従えば、比較的容易に相応の結果が得られることもある。これは、ハード・ソフト両面の高度化の賜物であるが、その一方で、表面分析の基礎が蔑ろにされがちである。その結果、表示されたグラフや数値についての考察が不十分になる、等の問題が生じやすい。
そこで本セミナーでは、表面分析の入門として、最初に、表面分析と関連が深い現象(相互作用)について説明する。また、相互作用の結果を分析装置に表示するまでの信号の流れ、等を分かり易く解説する。その上で、代表的な表面分析の仕組みと分析結果の例を紹介する。加えて、表面分析の応用として、マッピング、深さ分析について言及する。
○受講対象:
・これから表面分析を始める方、または経験の浅い方
・表面分析の経験はあるが、別の表面分析に携わる予定の方
・表面分析の基礎となる相互作用を理解したい方
・表面分析装置の仕組みに関心のある方
など
○受講後、習得できること:
・表面分析の全体像
・代表的な表面分析の原理、特徴
・代表的な表面分析の位置付け
・表面分析のデータとその解釈に関する基礎知識
など
セミナー内容
Ⅰ 表面分析の概要
1.はじめに
2.代表的な表面分析装置のフロー
Ⅱ 表面分析の構成要素
1.入射
1-1 X線
1-2 電子
1-3 イオン
2.相互作用
2-1 X線と表面の相互作用
吸収、蛍光X線、XRD、等
2-2 電子と表面の相互作用
吸収、特性X線、等
2-3 イオンと表面の相互作用
吸収、スパッタリング、ラザフォード散乱、等
3.認識
3-1 検出器
3-2 表示
4.その他
4-1 真空
4-2 試料ステージ
Ⅲ 表面形状観察
1.光学顕微鏡
2.SEM
3.レーザー顕微鏡
4.SPM
Ⅳ 表面元素等分析
1.XRF
2.XPS
3.AES
4.S-SIMS
Ⅴ 表面分析の応用
1.マッピング
1-1 SEM-EDS
1-2 EPMA
1-3 AES
1-4 S-SIMS
1-5 XRF
1-6 XPS
2.深さ分析
2-1 D-DIMS
2-2 スパッタリングの併用
2-3 RBS
Ⅵ 補足
Ⅶ まとめ
<質疑応答>
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セミナーコード:AD2511N9