……Zoomオンライン受講
……見逃し視聴選択可
★分析装置の進化に伴い、より手軽に結果が得られるようになった反面、その弊害も!!
★薄膜評価に用いられる各種分析機器の原理や得られるデータの特徴等を俯瞰し把握、
目的に応じた分析手法の選択・適したデータを得るための分析スキルの向上が期待できます!
講師
合同会社I・R・D CEO 博士(理学)古田 啓 氏
講師紹介
*ご略歴:
1992年から民間企業4社に勤務。非破壊検査、薄膜形成等様々な技術開発・研究開発を担当。また、市場調査をふまえた新技術の開発、上市、生産部門への技術移管、技術支援、知財管理、営業支援、等にも従事。
2024年1月、経営・技術のコンサルティングファーム(合同会社I・R・D)を設立、現在に至る。第1種放射線取扱主任者、中小企業診断士、1級知的財産管理技能士(特許、ブランド)。
*ご専門および得意な分野・研究:
機器分析、放射線計測、表面処理、MOT(技術経営)、知財管理
<その他関連セミナー>
表面・界面技術:コーティング・接着・ぬれ性等 一覧はこちら
日時・受講料・お申込みフォーム
●日時:2025年5月19日(月) 10:30-16:30 *途中、お昼休みや小休憩を挟みます。
●受講料:
【オンライン受講(見逃し視聴なし)】:1名 50,600円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき39,600円
【オンライン受講(見逃し視聴あり)】:1名 56,100円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき45,100円
*学校法人割引:学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認ください。
●録音・録画行為は固くお断りいたします。
お申込みはこちらから
配布資料・講師への質問など
●配布資料はPDFなどのデータで配布いたします。ダウンロード方法などはメールでご案内いたします。
・配布資料に関するご案内は、開催1週前~前日を目安にご連絡いたします。
・準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申込みをお願いいたします。
(土、日、祝日は営業日としてカウントしません。)
・セミナー資料の再配布は対応できかねます。必ず期限内にダウンロードください。
●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。(全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。)
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止いたします。
●ご受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールアドレス宛にお問い合わせください。
req@*********(*********にはjohokiko.co.jpを入れてください)
オンラインセミナーご受講に関する各種案内(必ずご確認の上、お申込みください。)
※メールアドレスの記載誤りについては、以下へご連絡お願いいたします。
req@*********(*********にはjohokiko.co.jpを入れてください)
→Skype/Teams/LINEなど別のミーティングアプリが起動していると、Zoomで音声が聞こえない、カメラ・マイクが使えないなどの事象が起きる可能性がございます。お手数ですが、これらのアプリは閉じた状態にてZoomにご参加ください。
→音声が聞こえない場合の対処例
→一部のブラウザは音声が聞こえないなどの不具合が起きる可能性があります。
対応ブラウザをご確認の上、必ず事前のテストミーティング をお願いします。
(iOSやAndroidOS ご利用の場合は、アプリインストールが必須となります)
→見逃し視聴について、 こちらから問題なく視聴できるかご確認ください。(テスト視聴動画へ)パスワード「123456」
<見逃し視聴ご案内の流れ・配信期間詳細>
セミナーポイント
近年の分析装置はユーザーフレンドリーであり、オペレーターが分析原理や分析限界を知らなくても、相応の結果が得られることもある。これは、ハード・ソフト両面の高度化の賜物であるが、その一方で、ブラックボックス化が進んでいる。
この点、違和感を覚える方もいらっしゃるかも知れないが、ブラックボックス化には違和感だけではなく、弊害がある。例えば予想外の結果が出た場合、原因究明に時間を要することがある。
また、開発要素や分析要素が多岐にわたる場合、分析方法の選択に迷うこともある。
選択を誤れば、目的に適したデータを得られず、分析に要した苦労や経費(例:分析に係る人件費、分析依頼費、装置購入費)が無駄になりかねない。
そこで本セミナーでは、機器分析の概要を述べた上で、現代技術の発展に欠かせない「薄膜」をターゲットとして、代表的な機器分析を俯瞰し、その原理、特徴、等について、実例を交えて紹介する。
また、機器分析の選択のポイントについても言及する。
○受講対象:
・機器分析を理解したい方
・薄膜の分析法の選択や装置の選定に迷っておられる方
・機器分析全般に関心のある方
など
○受講後、習得できること:
・機器分析の全体像
・各機器分析の原理、特徴の基礎知識
・各機器分析の位置付けの基礎知識
・薄膜評価に必要となるデータの見方とその解釈
など
セミナー内容
第1部 機器分析の概要
Ⅰ 代表的なフロー(入射→相互作用→認識)
Ⅱ 入射
1.X線
2.電子
3.その他
Ⅲ 相互作用
1.X線との相互作用
2.電子との相互作用
3.その他
Ⅳ 認識
1.検出器
2.表示
Ⅴ その他
1.真空
2.試料ステージ
第2部 代表的な機器分析
Ⅰ 形状観察
1.光学顕微鏡
2.レーザー顕微鏡
3.SPM
a)AFM
b)STM
4.SEM
Ⅱ 結晶解析
1.X線回折(XRD)
a)写真
b)ゴニオメーター
2.電子線(TEM)
Ⅲ 表面分析
1.XRF
2.XPS
3.AES
4.ATR(FT-IR)
5.マッピング
Ⅳ その他
1.深さ分析
a)SIMS
b)RBS
2.機械的特性
a)SAICAS
b)ナノインデンテーション
3.(格子)欠陥
a)TEM
b)トポグラフ
第3部 機器分析の選択のポイント
Ⅰ おさらい
Ⅱ 外部機関の利用
Ⅲ 分析装置の導入
1.更新
2.新規
<質疑応答>
お申込みはこちらから