……Zoomオンライン受講
……見逃し視聴選択可
〇装置構成、レジスト、マスクなどのEUVリソグラフィの基礎から、GAAトランジスタなど応用事例、最新開発動向と現状課題まで。物理学的視点で基礎から解説します。
講師
東京大学 大学院新領域創成科学研究科 特任助教 藤原 弘和 氏
講師紹介
2019年4月より、東芝メモリ株式会社(現キオクシア株式会社)にてアモルファス酸化物半導体をチャネルに用いた薄膜トランジスタの開発に従事。2021年4月より、東京大学にてレーザー励起光電子顕微鏡の半導体産業応用およびそれを使った動作中の電子デバイスの研究に従事。現在に至る。
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日時・受講料・お申込みフォーム
●日時:2025年6月27日(金) 13:00-17:00 *途中、小休憩を挟みます。
●受講料:
【オンライン受講(見逃し視聴なし)】:1名 46,200円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき35,200円
【オンライン受講(見逃し視聴あり)】:1名 51,700円(税込(消費税10%)、資料付)
*1社2名以上同時申込の場合、1名につき40,700円
*学校法人割引:学生、教員のご参加は受講料50%割引。→「セミナー申込要領・手順」を確認ください。
●録音・録画行為は固くお断りいたします。
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配布資料・講師への質問など
●配布資料はPDFなどのデータで配布いたします。ダウンロード方法などはメールでご案内いたします。
・配布資料に関するご案内は、開催1週前~前日を目安にご連絡いたします。
・準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申込みをお願いいたします。
(土、日、祝日は営業日としてカウントしません。)
・セミナー資料の再配布は対応できかねます。必ず期限内にダウンロードください。
●当日、可能な範囲でご質問にお答えします。(全ての質問にお答えできない可能性もございます。何卒ご了承ください。)
●本講座で使用する資料や配信動画は著作物であり、無断での録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売などは禁止いたします。
●ご受講に際しご質問・要望などございましたら、下記メールアドレス宛にお問い合わせください。
req@*********(*********にはjohokiko.co.jpを入れてください)
オンラインセミナーご受講に関する各種案内(必ずご確認の上、お申込みください。)
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→音声が聞こえない場合の対処例
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(iOSやAndroidOS ご利用の場合は、アプリインストールが必須となります)
→見逃し視聴について、 こちらから問題なく視聴できるかご確認ください。(テスト視聴動画へ)パスワード「123456」
<見逃し視聴ご案内の流れ・配信期間詳細>
セミナーポイント
■はじめに:
生成AIの登場により、半導体製品に対する需要は堅調に高まっています。昨年には高NA-EUV露光装置が半導体デバイスメーカーに納品され、半導体の高密度化のトレンドは今後も続くと見られます。
本講座では、微細加工技術のキモとも言えるフォトリソグラフィについて、従来技術および先端EUVリソグラフィについて、物理学的な視点で基礎を解説します。EUV露光装置およびEUV光とレジストとの相互作用について特に詳しく解説します。加えて、EUVリソグラフィの応用事例や課題、課題解決に向けた最近の取り組みについて紹介します。
■受講対象者:
EUVリソグラフィ技術の基礎や周辺材料に興味のある方。
■必要な予備知識:
量子力学の基礎知識。
■本セミナーで習得できること:
・EUV露光装置の基礎知識
・フォトレジストの基礎知識
・EUVリソグラフィの課題や現在の取り組み例
など
セミナー内容
1.微細加工技術
1-1. トランジスタの変遷
1-2. 微細加工技術の基礎
1-3. 微細加工パターンの評価手法
2.フォトリソグラフィの基礎
2-1. フォトリソグラフィ技術の原理
2-2. フォトリソグラフィの歴史
2-3. フォトリソグラフィの特徴
2-4. レジスト材料
3.EUVリソグラフィの基礎
3-1. 装置構成
3-1-1. EUV光の発生原理
3-1-2. 光学系
3-1-3. レジストとEUV光の相互作用
3-2. EUV露光システムの特徴
3-3. EUVリソグラフィ材料
3-3-1. EUVレジスト
3-3-2. EUVレジスト周辺材料
3-3-3. EUVフォトマスク
3-3-4. EUVペリクル
4.EUVリソグラフィの応用事例
4-1. GAAトランジスタ
5.EUVリソグラフィの課題と展望
5-1. 最新のEUVリソグラフィのパフォーマンス
5-2. EUV光源開発の取り組み紹介
5-3. EUVレジスト開発の取り組みの紹介
5-4. レジスト検査技術開発の取り組みの紹介
<質疑応答>
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